移动设备的接收机的衰落性能测试
一、 衰落
衰落从范围上来讲,大体分为三种情况:大区域衰落,小区域衰落和室内衰落。如图1所示,大区域衰落指的是信号在长距离(几百个波长以上)传播时的平均衰减,主要由大气损耗,建筑物或大的物体如山丘、树木遮挡所引起。
图1 大区域衰落
图2 小区域衰落
图3 室内衰落
小区域衰落主要有多径传播和多普勒频移所引起(如图2所示)。信号有基站发出来可能会通过直射、反射或散射才能到达接收者,不同路径信号的强度和时延都会有所不同。另外由于接收者是运动的,它会不停地经过信号高强度区域或低强度区域。还有一个影响是由于接收者的高速运动,会导致相对频移,如果向着发射机方向运动,频率会升高,背离发射机方向,频率会降低。
室内环境与小区域衰落的情况类似(如图3所示),信号在传播过程中会受到反射、折射、散射的影响,比如在办公室的环境中,各种金属的设备、家具等都会对信号产生多径效应。
衰落的环境会对无线通信系统的通信质量造成很大的影响,大区域的衰落主要表现在由于距离产生的路径损耗,这会导致系统信噪比的减低。小区域的多径效应和多普勒效应会引起码间干扰,还会引起同步和锁相的问题。
二、 无线设备抗衰落性能测试的一般方法
由于衰落对通信造成很大的影响,在移动接收机设计的时候,就必须采取各种办法来保证足够的余量防止衰落问题。所以,在移动设备的开发和生产阶段,模拟衰落的环境对设备进行测试。
各种移动终端的测试标准中,都对衰落环境下的测试做了明确的规定,如下表所示。W-CDMA 在3GPP 标准TS 34.121 V3.12.0 中规定了以下的测试:
7.3 Demodulation in multi-path fading, case 1, 2, 3, 4, 6
7.4 Demodulation in moving propagation
7.5 Demodulation in birth/death propagation
7.6 Demodulation of DCH in downlink
CDMA2000 在3GPP标准C.S0011B中规定了以下测试:
3.3.4 Demodulation performance in multipath fading
3.4.2 Demodulation performance in multipath fading
3.4.7 Demodulation performance in multipath fading with
closed loop power control (FPC_MODE = '000')
3.4.8 Demodulation performance in multipath fading with
closed loop power control (FPC_MODE = '010')
3.4.9 Demodulation performance in multipath fading with
closed loop power control (FPC_MODE = '000', '001', and '010')
3.4.10 Demodulation performance in multipath fading with
closed loop power control (FPC_MODE = '000') and transmit diversity
3.4.11 Demodulation performance in multipath fading with
closed loop power control (FPC_MODE = '010') and transmit diversity
图4 常见的衰落环境仿真的方法
在目前的许多测试系统中,大多采用在RF链路上插入衰落仿真的办法( 如图4所示)。
这种方法先把要衰落的信号进行下变频,然后数字化。 衰落仿真的模型加入数字化的信号,然后数模变换、上变频成RF信号。最后还要加入相应的噪声信号。这里噪声信号必须保证与衰落的模型分别加入,因为噪声(AWGN)对于任何多径信道都是独立的。 因此,在这个过程中有两个地方必须注意,一个是模数/数模变换时的变换损失,另一个是对噪声信号幅度的校准。
变换损耗发生在每次把信号从模拟到数字取样的时候,或从数字恢复到模拟的时候。这会带来一定的系统误差,只有把这个系统误差降低到尽可能小的时候,衰落仿真的精度才是可靠的。
在往信号上面加AWGN的时候,至关重要的是幅度要准确,它必须在衰落之后加,以便保证背景噪声没有被衰落衰减。但是添加噪声在改变载干比(C/N)的同时,也改变了总功率幅度。为了保证噪声幅度准确,必须确定衰落后的载波功率幅度,这会消耗很长的时间,因为对输出的功率要进行反复的测量才能得到统计上正确的幅度。
三、 基带仿真与综合测试仪结合实现CDMA、1xEVDO、W-CDMA抗衰落测试
由于图4种介绍的衰落系统比较复杂,系统造价也比较高。 对于许多只对手机接收机衰落环境下性能测试的部门来说,成本负担比较重。为此,安捷伦公司用成本低廉的基带衰落仿真卡与手机综合测试仪8960设计了一套价格低廉,使用方便的测试方案。 具体方案如图5所示。
图5 安捷伦科技基带衰落仿真卡与8960结合的测试方案
基带仿真是一种新的衰落仿真方法,它由安装在PC中的PCI基带仿真卡N5101A和衰落仿真软件组成,它在数字部分完成衰落环境的仿真,并对噪声信号校准。 8960 通过安装504选件,可以与衰落仿真卡接口。 这样,8960 要送给手机的信号
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