脉冲I-V测试 ——纳米测试小技巧（之二）

户界面加快了学习曲线的建立过程，相比同类产品能够使用户更快地设置和执行测试操作。

结束语：

脉冲测试为人们和研究纳米材料、纳米电子和目前的半导体器件提供了一种重要手段。在加电压脉冲的同时测量直流电流是电荷泵的基本原理，这对于测量半导体和纳米材料的固有电荷俘获特性是很重要的。施加电流脉冲同时测量电压使研究人员能够对下一代器件进行低电阻测量或者进行I-V特征分析，同时保护这些宝贵的器件不受损坏。