微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 采用光强传感器TSL256x的感测系统设计方案

采用光强传感器TSL256x的感测系统设计方案

时间:07-31 来源:互联网 点击:

当积分式A/D转换器转换完成后,可以从通道0寄存器和通道1寄存器读取相应的值CH0和CH1,但是要以Lux(流明)为单位,还要根据CH0和CH1进行计算。对于TMB封装,假设光强为E(单位为Lux),则计算公式如下:

① 0CH1/CH0≤0.50
  E=0.030 4×CH0-0.062×CH0×(CH1/CH0)1/4
  ② 0.50CH1/CH0≤0.61
  E=0.022 4×CH0-0.031×CH1
  ③ 0.61CH1/CH0≤0.80
  E=0.012 8×CH0-0.015 3×CH1
  ④ 0.80CH1/CH0≤1.30
  E=0.001 46×CH0-0.001 12×CH1
  ⑤ CH1/CH0>1.30
  E=0

对于CHIPSCALE封装,计算公式可以查看相应的芯片资料。

5 结论

采用TSL256x实现光强度实时监测的系统,具有精度高、成本低、体积小等优点。芯片内部集成了积分式A/D转换器,采用数字信号输出,因此抗干扰能力比同类芯片强。该芯片在光强监测控制领域已得到广泛应用。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top