提高系统级芯片测试效率的方法

发现并纠正设计中影响可测性的问题；

3. 支持Mux-DFF、Clocked-Scan和LSSD扫描结构；

4. 同时支持全扫描与部分扫描的识别与插入；提供了多种可选的部分扫描插入方式，并可自动选择部分扫描方式；

5. 通过自动测试点插入与综合来加强设计的可测性；

6. 通过插入测试逻辑电路来自动纠正设计中违反可测性设计规则的部分；

7. 支持版图层次上的扫描链单元的次序控制，以提高测试逻辑插入过程中的时序有效性；

8. 为后续的ATPG过程提供充分支持，生成ATPG工具要求的全部SETUP文件，可直接调用ATPG 工具确保快速DFT流程；

9. 支持UNIX平台(Solaris, HP-PA) 及LUNIX操作平台。 ATPG是指测试向量自动生成。它是可测试性设计的核心，因为生成测试向量的质量好坏直接关系到测试成本的高低。一方面ATPG工具针对Stuck-at故障模型、跃迁故障模型、路径延时故障模型、IDDQ模型生成高质量的测试向量，另一方面ATPG工具利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。ATPG算法又分为组合ATPG和时序ATPG两种。

FastScan测试向量自动生成工具可以针对全扫描IC设计或规整的部分扫描设计生成高质量的的测试向量。其主要特点如下：

1. 支持对全扫描设计和规整的部分扫描设计自动生成高性能、高质量的测试向量；

2. 支持多种故障模型：stuck-at、transition、critical path和IDDQ；

3. 提供超过140条基于仿真的测试设计规则检查；

4. 提供高效的静态及动态测试向量压缩性能；

5. FastScan CPA选项支持在速测试用的路径延迟测试向量生成；

6. FastScan MacroTest选项支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成；

7. FastScan Diagnostics选项可以通过分析ATE机上失败的测试向量来帮助定位芯片上的故障；

8. ASICVector Interfaces选项可以针对不同的ASIC工艺与测试仪来生成测试向量；

9. 支持32位或64位的UNIX平台(Solaris, HP-PA)及LUNIX操作平台。

FlexTest的时序ATPG算法使它在部分扫描设计的ATPG领域拥有巨大的优势，它也可以显著提高无扫描或全扫描设计的测试码覆盖率；其内嵌故障仿真器可以估计功能测试码的故障覆盖率，然后在此基础上生成部分扫描并进行ATPG。其主要特点如下：

1. 可以使用已有的功能测试向量进行故障仿真；计算测试覆盖率；

2. 针对一般的时序电路或部分扫描电路的进行高效ATPG与故障仿真；

3. FlexTest Distributor选项提供的网络分布处理技术可以加速ATPG与故障仿真过程；

4. 支持多种故障模型：stuck-at、transition和IDDQ；

5. 提供超过140条基于仿真的测试设计规则检查；

6. 与FastScan和DFTAdvisor共享数据库，使得DFT与ATPG流程效率更高。

基于嵌入式压缩引擎的ATPG算法是下一代ATPG工具的发展趋势。TestKompress提供的嵌入式压缩引擎可以作为通用的IP很方便地集成到用户的设计，EDT(Embedded Deterministic Test)算法在保证测试质量的前提下显著地(目前可达到100倍)压缩测试向量数目，同时大大提高了测试运行的速度。其主要特点如下：

1. 在保证测试质量的前提下成百倍地减少测试向量的数目，成百倍地降低测试成本；

2. 引入嵌入式压缩引擎IP不需要对系统逻辑进行任何更改，对电路的性能没有任何影响；

3. 支持多种故障模型：stuck-at、瞬态和路径延迟、IDDQ；

4. 支持多种测试向量类型：Basic、clock-sequential、RAM-Sequential、时钟PO和多负载；

5. 与FastScan和DFTAdvisor共享数据库，使得DFT与ATPG流程效率更高。

广义的BIST技术包括LBIST、MBIST和边界扫描技术。LBIST技术是指在ASIC、IC或IP内核中自动插入内建自测试电路，以保证较高的故障覆盖率。由于它不需要在ATE机上加载测试向量，而且可以在芯片的工作频率下进行实速测试，所以它可以缩短测试时间，降低测试成本。LBIST工具可以自动生成BIST结构(BIST控制器、测试向量发生器和电路特征压缩器)的可综合RTL级HDL描述，并快速进行故障仿真以确定故障覆盖率。Mentor公司提供的LBIST工具BISTArchitect的主要特点如下：

1. 内建自测试技术降低了芯片测试对ATE测试机memory容量的要求；

2. 针对部件或系统进行内建自测试(BIST)的自动综合、分析与故障仿真，便于进行设计与测试的复用；

3. 实速测试和多频率测试确保了高性能、高质量的测试设计；

4. 全面的BIST设计规则检查确保了易用性、减少了设计时间、缩短了设计面市时间；

5.采用MTPI技术能够在获得最大故障覆盖率的同时将对设计的影响减至最低；

6. BIST部件的RTL综合和与工艺无关，可以保证设计复用；

7. 配合BSDArchetect可实现层次化的LBIST电路连接关系。 MBIST技术可以自动实现存储器单元或阵列的RTL级内建自测试电路。MBIST的EDA工具一般支持多种测试算法，可以对一个或多个内嵌存储器自动创建BIST逻辑，并完成BIST逻辑与存储器的连接。它能够在多个存储器之间共享BIST控制器，实现并行测试，从而显著缩短测试时间和节约芯片面积。MBIST结构中还可以包括故障的自动诊断功能，方便了故障定位和开发针对性的测试向量。MBISTArchitect以其简捷、易用、支持用户自定义测试算法等技术优势而被推崇为业界市场份额最大的MBIST工具。其主要特点如下：