微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 利用逻辑分析仪和DSO解决信号完整性问题

利用逻辑分析仪和DSO解决信号完整性问题

时间:03-20 来源:互联网 点击:

造成的原因或结果。但不管是哪种情况,发现内部模拟特性有助于设计人员更快追踪问题。

信号完整性问题经常以间歇式数字故障的形式出现,例如与抖动相关的错误在上百万个周期中可能只出现一次,这类错误很难复制,因此难以发现。信号完整性测试可以发现电路板布局产生的最初问题,如端接不良的总线会产生反射和信号变形而影响数字性能,然后再一路追踪数字错误直到变形的模拟信号,通过整合的逻辑分析仪/示波器证明数字错误确实与布局相关,而与逻辑无关。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top