PN结二极管散粒噪声测试方法研究
时间：04-05
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针对散粒噪声难以测量的特点，本文提出了一种低温散粒噪声测试方法。在屏蔽环境下，将被测器件置于低温装置内，有效抑制了外界电磁波和热噪声的干扰，采用背景噪声充分低的放大器以及偏置器、适配器等，建立低温散粒噪声测试系统。应用该系统对PN结二极管进行噪声测试，得到了很好的测试结果，并分析该器件散粒噪声的特性。
本文的工作为器件散粒噪声测试提供了一种新方法，并对PN结二极管散粒噪声特性进行了测试、分析。
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