元器件的连通性和绝缘电阻测试

测得的最大电阻往往不会高于100 MΩ。为了测试规定测试电压下的IR，可以使用的测试配置如2400型源表和7001型或7002型开关主机中的7011型1×10多路选通卡。

　　图5，扩展的通断性/IR测试系统

　　如果需要更高的测试电压或必须测量更高的漏阻，则可使用图5所示的电路。在该图中，采用了两块7154型高压扫描卡来将2410型源表和2010型数字多用表切换至8根导线。该系统能够以高达1000 V的测试电压测量低达0.1 mΩ的导线电阻和高达300 GΩ的漏阻。注意，2410型和2010型未被连接到开关卡输出，而是连接到插卡的指定通道。插卡的输出，仅用来将系统扩展为可测量更多数量的导线。若要测量电阻R1的阻值，需闭合通道1、10、11和20。这样将把2010型连接到R1两端；若要测量Ra，也就是R1和R2之间的漏阻，需要闭合通道1、9、12和19。这样将把2410型连接到漏阻（Ra）两端。