基于CMOS电路的IDDQ测试电路设计

时间：07-29 来源：互联网点击：

阈值漏电流的增加，电路设计中门数的增加，电路总的泄漏电流也在增加，这样分辨间距会大大缩小，当出再重叠时就很难进行有效的故障检测和隔离。

但尽管如此，由于IDDQ测试电路的简易性非常突出，所以它仍然是目前可测性测试技术的研究热点。

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