KPXI混合测试系统解决方案

　　吉时利的混合测试解决方案是业界最先进的PXI和测试设备混合结构，通过分布式编程和并行执行能够极大地加快测试时间。本文介绍的内容是一个在较大系统中使用KPXI产品的参考方案。

　　混合测试系统

　　混合测试系统能够利用每种测试平台的功能，优化整个系统的速度和精度。吉时利采用多种不同的总线结构，提供了很多针对生产测试的系统产品。每种应用都需要在一个测试系统中实现不同的功能组合，可能会用到不同的测试设备和总线，以获得最好的测试结果。

　　一般而言，有很多系统性的优势和劣势，使得每种总线分别适用于不同的应用和环境。对此，我们分别介绍如下。

　　PXI子系统在数据采集和控制任务方面具有非常快的速度优势。系统中的PXI部件可用于精确控制和数据采集。控制器可以在本地完成跨越多个模块的事件与信号的程控和同步操作。当必须对来自多个源设备的信号进行统一分析，进行通过/失效测试或质量检查时，系统底层的高带宽是非常必要的。LXI子系统采用完全分布式的系统结构，能够实现并行处理。当用户需要精密、电源或复杂的测量功能时，应该采用LXI测试设备。LXI架构比GPIB高很多的定时优势使得其成为既关注产能又需要高质量测量的产品应用中的最佳总线选择。

　　基于TSP的“智能仪表”子系统运行过程与整个系统控制器相互独立，以实现最大的吞吐量。TSP是一种嵌入式脚本技术，在吉时利的2600系列数字源表上得到了应用。TSP技术能够

　　在本地进行测试判断，相比传统的仪表具有更大的测试吞吐率。TSP子系统能够从系统中所有的仪表上收集数据，分析数据，然后不需要系统控制器的帮助就可以进行测试判断。TSP在一个测试系统内实现了多种测试设备的紧密集成，当用户要求各个仪表操作与测试判断具有较高同步能力的时候，应该选用该产品。

　　GPIB子系统采用了多种功能强大而精密的测试设备。GPIB设备仍将广泛适用于各种需要不同测试设备的应用场合。当用户的某种应用需要这些功能时，可以选用GPIB系统从多台测试设备上配置并采集数据。通常，通过使用很多测试设备提供的握手触发功能，可以提高系统的测试吞吐量。

　　KPXI系统配置

　　KPXI系列产品包括模拟和数字量的数据采集模块、数字化仪和其他一些系统组件。它们沿袭了吉时利数据采集和控制的优良传统，并引入了PXI总线架构。这些产品是针对特别注重输入/输出、数据采集和控制应用的生产测试系统而设计的，常用于很多半导体、射频和电子元件的测试系统。

　　一个完整的PXI子系统是由多个关键部分组成的：

• 首先，判断实现应用目标需要哪些模块。用户可以根据下一页的选型指南，选择出所需模块的类型和数量。然后，查看每种模块的指标，确定它们是否能够满足要求。吉时利的KPXI系列产品包括多功能模块、同步采样模块、深度存储数字化仪，以及各种数字I/O模块等。

• 第二，根据您系统内将包含的模块数量，选择一个平台（即机箱）。注意，需要保留一个控制器插槽，然后为系统内所需的每个模块分配一个插槽。吉时利提供的机箱有6、8、14和18个插槽可供选择。

• 第三，不论是何种机箱，系统中必须包含一个控制器。采用嵌入式PC控制器可以实现紧凑的尺寸和专业的测试系统。远程控制可以是一个备选项。当使用桌面PC或者另外一个PXI机箱去控制该机箱中的各个模块时，应该选用两个远程控制器模块和一条连接线。

• 最后，根据图3中附件列表确定您是否拥有构成一个完整测试系统所需的附件系统软件

　　KPXI产品还包含用于系统开发的多种软件工具。用户可以把自己平时惯用的文本编辑或应用开发软件与吉时利提供的工具结合起来使用。

　　开发工具

　　吉时利的代码创建器（Code Creator）是与大部分KPXI产品配合使用的。用户无须编程，就可以通过该代码创建器的菜单选择出模块功能与相关选项。然后，代码创建器就会显示出相应的C代码，向用户示范如何在类似的应用中使用该驱动程序。驱动程序直接调用.dll API，因此由代码创建器示范的示例代码就与用户的很多常用语言环境关联起来了。