天线测试方法的选择及评估
时间:09-29
来源:互联网
点击:
图3:在紧缩测试场中由静区上的反射面产生的平面波
在锥形暗室中,源天线非常关键,特别是在较高频率时(如2GHz以上),此时暗室行为对细小的变化更加敏感(图4)。整个锥体的角度和处理也很重要。角度必须保持恒定,因为锥体部分角度的任何变化将引起照射误差。因此测量时保持连续的角度是实现良好锥形性能的关键。
图4:在典型的锥形暗室中,吸波材料的布局看起来很简单,
但离源天线较近的区域(锥形暗区域)非常重要
表中提供了典型锥形微波暗室的特性,可以用来与典型的矩形暗室作比较。较少量的锥形吸波材料意味着更小的暗室,因此成本更低。这两种暗室提供基本相同的性能。不过需要注意的是,矩形暗室要想达到与锥形暗室相同的性能,必须做得更大,采用更长的吸波材料和数量更多的吸波材料。
图5:一个用于天线测试的200MHz至40GHz小型锥形暗室
图6:从图中可以看出,在200MHz点测得的反射率大于30dB
图7:图中测试采用双脊喇叭作为源
图8:图中测试采用一个对数周期天线来扫描QZ以测量反射率
- 智能天线的测试(01-18)
- 虚拟仪器在数字阵列天线测试中的应用(03-02)
- 虚拟仪器的数字阵列天线测试(11-08)
- 手机智能天线测试系统(11-28)
- 智能天线的测试项目及测试方法(12-26)
- 在智能天线测试方面的探究(12-23)