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警惕硬件电路测试中的一些陷阱

时间:01-14 来源:互联网 点击:

络必然存在一个工作频率范围,由于RG的存在,这个网络必然存在损耗,所以传输线会对测试系统产生滤波器效应,也就是说传输线也有一个工作频率范围的问题,如果我们用网络分析仪去测试一根RF同轴线比如RG-58C,在很宽的频率范围来扫描其S21,我们会发现这个同轴线是一个低通滤波器,从RF线材的非理想性来看,这个测量结果应该是意料之中的。可以设想,如果我们单纯让这根同轴线工作在远离其低通滤波器corner-frequency很远的地方,那么从RF匹配的角度来看,这个同轴线就不是一个50ohm或者75ohm匹配的同轴线,如果使用这根线,必然引起很大的反射损耗,此时就必须重新选择其他RF线材。下面的表格就是一个RF同轴线的参数表格,可以看到每个feet长度时,其等效的电容大约是20~30pF,对于高频而言,这个是比较大的电容,这就是为什么我们在进行RF测量时,必须选择尽可能短的同轴线的原因。

  相应地,在测量高频信号(或者高频数字信号)的时候,示波器探头的地线的的等效负载效应也必须考虑,探头地线的介入,改变了测试系统的特性,探头地线作为一个感性负载元件必然引起测试对象的传输特性的改变,从而引起测试结果的变化,严重的会引起系统振荡和自激。

  以上就是测试线材的滤波器效应和负载效应。

  如果从基本电路理论和信号与系统的角度去理解上述这些测试系统中的陷阱,我们会很容易理解,并在选择仪器或者测试时,知道如何减小和消除这些问题的影响。

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