抗振晶体振荡器相位噪声测试方法的对比研究

图4在频偏1 kHz～1 MHz的1kHz处的测试数据是实际抗振晶体振荡器的相位噪声，为-148 dBc/Hz。PN8000相位噪声测试系统在进行频偏100 Hz～1 kHz处的相位噪声时，由于100 Hz处的相位噪声较差，测试系统自动将中频增益下降为60 dB。如图5所示，此时100Hz处测试系统的噪底约为-130dBc/Hz，比抗振晶体振荡器的实际相位噪声要低，所以PN8000相位噪声测试系统在100 Hz处的测试数据为实际抗振晶体振荡器的相位噪声。在1kHz处测试系统的噪底约为-140dBc/Hz，比抗振晶体振荡器的实际相位噪声高，所以图4在频偏100 Hz～1kHz中，1kHz处的测试数据是测试系统此时的噪底，约为-138 dBc/Hz。最终导致PN8000相位噪声测试系统测试抗振晶体振荡器的动态相位噪声时，测试曲线呈现台阶状态。

为解决此问题，重新设置PN8000相位噪声测试系统的功能设置。增加PN8000相位噪声测试系统中的噪底优化功能。此噪底优化功能主要是通过将测试系统中测试软件的采样点进行细分，增加采样数据量，降低测试系统的影响。所以增加噪底优化的功能后，可以降低测试系统的噪底，但同时由于数据量增加较大，测试时间将会延长。增加噪底优化的功能后。测试结果如图6所示，中频增益达到60 dB时就能准确测试此抗振晶体振荡器的静态相位噪声。

通过增加优化噪底功能后，测试曲线如图7所示，增加优化噪底功能后，频偏1 kHz处的动态相位噪声为-148 dBc/Hz。消除了测试曲线上此处的台阶状态，与E5052A信号源分析仪的测试结果达成一致。所以，通过增加优化噪底功能可以解决PN8000相位噪声测试系统测试抗振晶体振荡器相位噪声曲线不正常的问题。

5 结束语

本文分析了抗振晶体振荡器的相位噪声及其两种测试方法，通过增加优化噪底功能和对比实验，解决了抗振晶体振荡器在两种测试系统中测试结果不同的问题，使两种测试系统的测试结果达成一致，为分析抗振晶体振荡器和整机系统的动态相位噪声测试问题提供了参考。