使用PXI模块化仪器测试电源管理芯片
纹波的最常用方法是在转换器的输出端串联添加电感和并联添加电容,这通常称为“LC网络”。 由于噪声和纹波中包含高频分量,因此应该使用具有高带宽的数字化仪进行测量,使波纹尖峰中的所有主要谐波都包含在内。
构建您自己的测试系统
传统的瞬态和噪声测试方法需要使用示波器,通过探针来测量DC-DC转换器的输入和输出线。 然而,PXIe-4139 SMU的1.8 MS/s采样率足以分析线性和负载瞬态响应特性,而且可以避免增加另一个仪器导致的复杂性和成本。 图8显示的PXIe-4139 SMU正在测量TPS54360的负载和线性瞬态行为。 在这些测试中,SMU分别充当了精确直流电源、外部负载和示波器。 外部负载在500 μs的脉冲内从最大电流的25%增加到75%,SMU负责测量DC转换器的电流消耗和电压输出。
注意: NI SourceAdapt技术能够以快速上升时间实现500 μs脉冲且不出现过冲或振荡,它是一种数字控制循环技术,可允许您控制SMU的瞬态行为。
对于更高速的采集或频谱分析,您可以轻松地将高速示波器添加到系统中,只需将板卡插入到PXI机箱的外设插槽即可。 NI提供了多种PXI示波器,可让您在一个PXI插槽中实现高达24位垂直分辨率或5 GS/s采样率的高分辨率或高速测量。 例如,使用PXIe-5162 4通道5 GS/s 10位示波器探测DC-DC转换器的输入和输出,您就可以通过软件前面板来查看噪声的频率分量。 在本例中,您可以看到600 kHz附近的开关噪声为数毫伏。
6. 测试系统扩展和自动化
PXI架构使得扩展测试系统的功能变得非常简单。 您可以将任意数量的附加PXI模块插入PXI机箱的其余插槽中。 测试DC-DC转换器通常需要的一些硬件包括具有RF和混合信号测量功能能的PXI模块、用于时序分析和连接的高速数字I/O,以及用于闭环控制和协议感知测试的基于FPGA的I/O。
通过NI软硬件的紧密集成,您可以实现PXI测试系统自动化,通过准确、可重复的定时来获得一致的数据。 您可以使用NI LabVIEW软件等开发环境来轻松编写测试序列,然后借助现成可用的强大测试管理软件NI TestStand来实现序列自动化,完成上面所说的所有参数测试。
图11显示了一个扩展机箱示例。
7. 推荐的硬件
PXI系统需要一个PXI机箱和一个集成控制器。
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