测试系统的不二之选：系统源测量单元

MU就可分析LED的特性，还可最小化通过测试设备消散的热量，避免需要创建自定义散热器。

上图通过使用一组50 us脉冲并使电流逐渐增大到最大值来显示大功率LED的IV特性。 使用50 us的窄脉冲宽度不仅可以最小化LED的自热影响，而且还可以减少总体测试时间。 如果没有NI SourceAdapt技术，精准地创建窄脉冲是不可能的，该技术优化了SMU对特定待测设备的响应，并可提供最快的上升时间，且无过压或振荡现象。

5. SMU助力您的下一个测试系统

NI系统SMU在体积小巧的PXI组成结构中提供高达500 W的脉冲电源，同时也提供了高达100 fA的电流敏感度。 这些仪器不仅提供了卓越的直流性能，而且也通过增加内置数字化仪和可自定义的SMU响应克服了传统仪器的种种局限性。 此外，NI系统SMU还提供了前所未有的通道密度，将多达17个系统SMU通道封装在一个19英寸4U的机架空间中。 功率、精度、速度和高通道密度的结合造就了NI系统SMU，您下一个测试系统不可或缺的选择！