智能设备需要更智能的测试系统

此外，STS具有全封闭的“零占用空间”测试头，集成了“Optimal+实时大数据”分析解决方案，采用了Reid Ashman的标准接口连接和对接机制，可轻松集成到半导体生产测试单元中。

Cirrus Logic公司针对其为IoT设备供电的Audio-CODEC产品的量产测试选择了STS。 在测试系统的基准测试比较中，STS在以下方面完胜专用的封闭式ATE： 速度、测试覆盖率和价格。 根据比较结果，Cirrus Logic公司正在尝试将STS应用于更多产品的测试。 “STS的速度快了约30%。 此外，它满足了我们提出的所有其他运营要求，包括成本。 最后我们的结论是，购买STS比租用传统ATE更便宜，”Cirrus Logic公司的产品和工程测试经理John Cooke表示。

“由于测试系统不断更新换代，或者无法满足新的测试需求，因此传统的ATE系统往往需要高昂的测试工具替换成本，但是STS的开放式PXI架构却可以让我们保有原本的投资，并且以此为基础进行优化，无需淘汰任何设备。 此外该架构还提供了所需的灵活性来帮助我们重新配置和扩展测试平台，使其满足我们不断提高的性能需求。”
—Glen E. Peer, Integrated Device Technology Inc.

6. 改变无线测试现状

在自动化测试价值链中，验证半导体芯片功能之后的下一步是消费设备的板卡级和器件级测试。 正如STS是在PXI的基础上添加了一个坚固的外壳、连接选项和专用软件，我们也对无线设备测试进行了同样的研发，并于2015年推出无线测试系统(WTS)。WTS结合了PXI硬件、LabVIEW和TestStand的最新进展，为WLAN接入点、手机、信息娱乐系统和其他包含蜂窝、无线连接和导航标准等多标准设备的多标准、多设备、多端口测试提供了一个统一的平台。

WTS结合NI PXI矢量信号收发仪(VST)和多核处理技术，提供业界领先的测试速度。 通过更快速的测量，用户可减少无线设备制造测试的成本。 在软件方面，基于TestStand的无线测试模块为Qualcomm和Broadcom等无线芯片厂商提供了可立即运行的测试序列，SCPI接口可允许基于以太网的远程自动化，使该模块能够轻松集成到现有的生产线。

借助这些功能，用户将可大大提高其测试设备的效率，并进一步降低测试成本。 哈曼公司选择WTS来测试其紧急呼叫装置，并与NI铂金级联盟伙伴NOFFZ合作，将WTS直接集成到生产线中。 “使用NI无线测试系统，我们可以在同一个设备上测试多种无线技术，包括蓝牙、WIFI、GPS和蜂窝。”HARMAN/Becker汽车系统公司的Markus Krauss表示， “WTS和NOFFZ的RF测试工程专业知识帮助我们显著减少了测试时间，且可以快速安装和运行测试系统。”

7. 总结

随着待测设备日益智能化，有一个问题出现了： 我是否能够相信我的仪器供应商具有足够快速的创新能力来满足我的业务需求？ 或许更重要的一点是，这是否值得我冒着风险去寻找答案？