提高DFT测试覆盖率的方法

于正常工作状态，模拟模块信号正常输出到后续的功能逻辑。当选择控制为“1”时，电路处于测试状态：在移位过程中，这些点由测试链预置相应的值;在捕获过程中，将之接地防止不定态在设计中的传播。

对于其他的模拟模块如ADC, 存储器等，采用类似的方法可改善整个芯片的测试覆盖率和测试效率，达到目标测试效果。

结语

在前面提及的实际项目DFT设计中，功能逻辑部分含有万余寄存器。为提高测试覆盖率，添加仅12个寄存器及很少部分组合逻辑作为测试点后，即可将测试覆盖率从原来的95%提高到 98.3%。由此看来，这种方法是很有效率的。并且可根据项目实际需要，添加更多点以期达到更高覆盖率，理论上测试覆盖率可接近100%。

推荐RTL功能设计时就能考虑这种测试结构。这样做设计工程师之间能够了解彼此的设计需求，功能测试结构明晰，在DFT设计过程中省去很多麻烦。如果发现这类问题在RTL完成之后，一些DFT工具也提供用户自定义的测试点插入，但是要注意测试控制信号选取一定要与需要的测试模式匹配，否则无法完成相应的测试期望。这种方法的关键是了解在哪里加测试点更为有效。