使用故障植入单元(FIU)进行电子测试

2 A SPST模块，该模块可用于创建多重故障植入拓扑，包括3通道双总线FIU和9通道单总线FIU，详情可参阅本教程。如需了解可用于故障植入应用的NI开关完整列表，可参阅NI开关选型指南.

4. 将PXI FIU集成至HIL测试系统

在选择FIU时，系统集成 (包含软件在内)是最后一个要考虑的重要因素。 在Windows环境中，可通过专门用于开关调试的图形化工具NI-SWITCH软件前面板(SFP)来配置和测试PXI FIU。 对于自动化控制，内含的NI-DAQmx硬件驱动结合LabVIEW Real-Time和Windows，可通过编程访问模块的所有功能。

HIL测试系统通常通过NI VeriStand进行控制，NI VeriStand是一个用于配置实时测试应用的现成软件环境。 用户也可通过NI VeriStand轻松控制NI PXI FIU，这意味着用户可在同一个环境中管理FIU；配置Real-Time I/O、激励配置文件、数据日志和警报；开发控制算法/系统仿真；创建运行时可编辑的用户界面等。 如需进一步了解如何使用NI VeriStand配置PXI-2510，可参阅 “在NI VeriStand中使用NI PXI-2510”在线教程。

图7. 通过NI VeriStand控制FIU

针对更高级且高时效性的控制，每个FIU模块可通过PXI背板传送/接收触发信号。 输入触发信号将可让开关提前至FIU硬件上加载的预定义列表中的下一个故障位置。 输出触发信号则可用于启动PXI系统中其他仪器的测量作业。 对于自动化测试应用，实时仿真的触发信号可通过故障条件发送至序列，而对于需要更复杂序列和动态故障控制的应用，一个或多个FIU可使用PXI FPGA模块经由PXI背板发送/接收触发信号。

结论

如果应用对ECU可靠性要求非常高，则应考虑使用FIU。 NI所提供的软硬件架构均可将FIU集成至HIL测试系统中来提升设备的安全性与可靠性