浅析测试系统中的矩阵开关的优化方法

司的BRIC也非常适用在这种方式中。前面提到的矩阵构成方式是，将测试装置和Y向进行连接，将待测设备的接入点和X向进行连接，下面我们采用另一种方式重新对矩阵进行排列，将所有的测试装置以及待测设备的接入点都和X轴向进行连接。而Y轴则是将X轴方向上的不同设备进行相互连接。尽管在许多应用中，如果PXI的前面板上有需要的话，Y轴是可用的，但是Y轴的输出并没有用到。

Y轴上需要连接的数量不再取决于测试装置需要的连接，而是取决于进行一项测试所需要的最大的连接数量。这样的话，矩阵的Y向的需求量就会比较小了。这样就能是矩阵的利用更为有效并且降低它的成本。在大多数系统中，对于任何一项测试仅需要8条Y向线路就可以完成所有的测量及相应的驱动。

图中的矩阵将测试装置和待测设备接入点都放在了X轴方向上。这个简单的例子包含了19个测试轴向点，但是，测试装置接入点和待测设备接入点的分界能够很容易地改变。

就拿前面提到的那个例子来说，采用这种矩阵排列方式只需要330个测试点（300个待测设备接入点和30个测试装置接入点）以及8条Y向连接线即可，一共需要2640个继电器，仅为上面提到的那种排列方法需要300乘30个点的继电器数量的30%。这样就可以在开关系统中节省了很大的开支。

此外，如何由于待测设备接入点的增加而需要对测试系统进行扩展的话，只需要增加X轴上的点数即可，这样继电器数量的增加就是比例的增加而不是几何的增加。同样的，如果测试装置接入点的数量增加的话，同样可以通过增加测试装置在X轴上的数量即可。整个矩阵尺寸的增加只表现在一个方向上的增加，这就避免了继电器数量的几何方式的增加。

Pickering Interfaces公司的BRIC在上面提到的这些情况下都是可以应用的。假如BRIC在购买的时候并没有配置子板卡的最大数量，如果需要对这个模块进一步扩展的话，只需要购买并安装更多的板卡即可。假如新的测试要求所需要Y向连接的数量（测试时需要同时作用的连接）并不需要继续扩展，那么BRIC模块只需进行相应的改变就可以适应新的测试要求，而不需要替换整个模块。这种灵活性也增加了相同的模块在以后的测试系统中的应用机会，这对于产品使用寿命相对较短的工厂或工程领域有着很重要的现实意义。

总结

采用BRIC模块的矩阵开关通过以下方式得到更为有效的应用：

将X轴上的一部分分配给测试装置接入点

减少系统需要的继电器数量

减少成本

BRIC模块的应用，使测试系统复杂的扩展不需要重新设计系统，购买新的模块就可以实现

可以在购买后对BRIC模块部分进行扩展

提高模块的重复利用性