微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 示波器基础系列之十二 —— 力科示波器一次性测量能力

示波器基础系列之十二 —— 力科示波器一次性测量能力

时间:01-05 来源:互联网 点击:

个数据包络。工程师需要控制“包”内信号的幅度和频率的变化,以此来控制驱动电路。由于信号的频率一直在变化,用其他品牌的示波器是根本没有办法对频率进行测量,而力科示波器可以方便的解决这个问题。

图13 AIM的应用

图14则是基于AIM功能测量信号的TIE抖动。上面的红色波形是通道2输入的被测方波信号。首先用参数测量通道2(C2)的TIE(P2),由于可以测量屏幕上捕获到的所有波形的参数,这就得以使我们可以对每一个周期的TIE进行追踪,追踪后的结果F1的曲线显示C2的抖动呈锯齿波变化规律。再来测量F1曲线的Pk-Pk参数(P4)即可得到抖动的峰峰值(Pk-Pk Jitter),测量F1的方差(P5)即为抖动的有效值(RMS Jitter)

图14 基于AIM功能测量信号的TIE抖动

AIM 的优势是不言而喻的。在我们没有强调AIM之前,可能您想象中的示波器的测量功能就应该是这样的。但真相是——惟有力科的标配测量统计功能具有AIM能力!电源测试,时钟抖动测量,日常几乎所有的测量中,我们都希望示波器能有AIM能力!

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top