您应该了解的高速串行数据下一代测试解决方案
新一代泰克测量工具包括实时示波器、采样示波器、差分探测、逻辑分析仪和信号源,可以协助工程师应对串行数据测量的挑战。这些下一代仪器和应用程序软件共同构成针对高速串行数据的一整套新测试平台的解决方案。解决方案卓越的性能,确保可以捕捉、显示和分析最复杂和最富挑战性的串行数据信号。关注高速串行数据测试,你应该熟悉以下这些主流的设备方案。
实时示波器
泰克实时示波器使工程师能够捕捉数千兆范围内的连续数据,并具有优良的信号保真度。实时示波器已成为串行数据分析和测试的理想工具。
TektronixDPO/DSA70000B数字荧光示波器和串行分析仪提供超高带宽和采样速率,可以实时采集数据并具有很低的抖动噪底性能,非常适用于精确定时和抖动测量。同步实时采样为多通道串行数据的测试提供了有至关重要的采集灵活性。自定义串行数据功能可扩展到高速串行触发,时钟恢复和协议解码,以及针对多个行业标准的一致性测试。DSA70000B 将最全面的串行数据调试和分析功能与行业最先进的示波器硬件平台结合在一起。
DPOJET 串行一致性测试和分析软件是所有 DSA70000B 机型的标准配置,也是数字荧光示波器(DPO)机型的选购配件。完备的分析功能将示波器主机转化为功能强大的自动化验证和一致性测试平台,其功能包括了软件时钟恢复、眼图以及一整套幅度、定时和抖动的特定标准参数测量,因此非常适用于数据传输率高达 10 Gb/秒串行标准的测试。
此外,这些方案所支持的特定一致性测试选项还包括:
· PCI Express 一致性测试
· FB-DIMM 一致性测试
· SATA 和 SAS 分析一致性测试
· InfiniBand 一致性测试
· DDR2/3, GDDR,LPDDR验证测试
泰克另外还提供了针对 HDMI、DisplayPort、超宽带、以太网和 USB 的分析和测试软件套件。这些软件解决方案支持各标准中定义的整套测试要求,能够为多个设计小组及供应商提供快速、可重复的测试结果。
超宽频采样示波器
泰克采样示波器是超宽频段仪器,它们能将最低的垂直噪音和最佳抖动与定时性能相结合,提供高精度波形测量结果。由于泰克采样示波器卓越的技术性能和广泛的测量与分析功能,这些设备被广泛地视为测量千兆串行数据元件、收发器和传输系统的最佳测试标准。
DSA8200是高度模块化的采样示波器,可以运用于光信号和电信号测试,并能实现准确的信号特征描述,灵活的时钟恢复和扩展分析。通过与 80SJNB 分析软件相结合,DSA8200 能够对 1 Gb/s 到 60 Gb/s 的数据传输率提供全方位的抖动、噪声和比特误码率(BER)分析。
在时域和频域中准确分析信号和互连性能,全面理解当今高速串行设计中信号损耗和串扰的影响至关重要。PCI Express、串行 ATA、XAUI 和 Infiniband 等业界标准越来越需要使用 S 参数和阻抗测量来描述这些影响的特征并确保系统的互操作性。业界领先的差分时域反射(TDR)性能支持对 S 参数频率特性进行复杂的网络分析。
IConnect 软件为 DSA8200 提供扩展的信号完整性分析。IConnect 测量插入损耗和回波损耗、反射,显示眼图,并帮助实施和显示抖动、串扰、反射和振铃测量。应用范围包括信号完整性分析、阻抗特征描述、S 参数测量、眼图一致性测试以及故障隔离。
探测
泰克探测装置提供从被测设备(DUT)到仪器的关键路径的解决方案。对于低电压差分信号,泰克探头拥有真正的差分性能,并针对信号保真度进行优化,最大限度地减少线路上的信号干扰。
P7300和P7500系列高频有源探头,连接灵活方便,线路负载低。便捷的互连组合系统亦支持多种 DUT 应用。
P7300SMA系列高频段 SMA 差分探头,可提供 50 欧姆直接电缆输入。 SMA 直接电缆输入,支持串行数据测试夹具和普通模式 的DC 电压输入,可以与实时示波器一起配置用于多通道采集。
信号源
泰克信号发生器能够产生模拟现实世界中的信号。如果用户需要尽可能真实地模拟这些条件,可编程信号源将是正确工具。而要产生于当今的数据传输率相当的真实信号,用户需要的是高速信号源,如任意波形发生器(AWG)或数据定时生成器(DTG)等。
AWG7000B系列使设计人员能够直接开发高速串行数据总线,创建、复制和生成理想、失真或者真实的信号,包括有噪声、抖动、干扰和其他异常的信号。AWG7000B 可以产生
高速串行数据下一代测 相关文章:
- 频宽、取样速率及奈奎斯特定理(09-14)
- 为什么要进行信号调理?(09-30)
- IEEE802.16-2004 WiMAX物理层操作和测量(09-16)
- 为任意波形发生器增加价值(10-27)
- 基于PCI 总线的高速数据采集系统(09-30)
- 泰克全新VM6000视频测试仪助力数字电视等产品测试 (10-06)