微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 多通道宽带示波器在 MIMO 射频测试和调试中的应用

多通道宽带示波器在 MIMO 射频测试和调试中的应用

时间:01-12 来源:互联网 点击:

符号)进行*测,以得出复合EVM结果。这揭示了参考信号的符号间变化,因此将 VSA 上的下行链路文件修改为只显示参考信号,如图5所示。

图 5――参考信号 EVM 时间

RS EVM时间图显示,一对天线表现不佳(参考信号在天线0/1之间的连续时隙上进行传输,然后是在天线2/3之间。计算多个子载波的RS EVM值,再计算跳变路径的平均值。)

图 6――VSA MIMO 信息表

为了更深入地探讨,可以查看图6所示的MIMO信息表。该MIMO信息表在显示天线串扰效应方面非常有用:

第 1 行:Tx1/Rx0、Tx2Rx0 和T3/Rx0 或接收天线0上发射天线1-3的串扰

第 2 行:接收天线1上发射天线0、2和3的串扰

第 3 行:接收天线2上发射天线0、1和3的串扰

第 4 行:接收天线3上发射天线0-2的串扰

我们看到即使通道之间存在串扰,个别RS EVM值仍相对较低。如上所述并参看图1,MIMO参考信号如果是时间正交和频率正交,这样RS EVM通常不会受到天线串扰的影响,这与复合 EVM不同,后者会受到天线串扰的影响。然而,通过检测MIMO信息表中的RS定时值,显示天线通道范围间的定时误差约为2.3?s至3?s(Tx1/Rx1、Tx2/Rx2、Tx3/Rx3)。这是一个问题,因为定时误差接近或超过LTE循环前缀的持续时间(4.69?s)时,可导致RS正交损耗。RS正交损耗会影响测量精度,例如 MIMO的信息表中显示的串扰值、PDSCH星座图和EVM结果。

考虑一下定时误差对天线串扰测量结果的影响。只要通道之间的时延远小于循环前缀的持续时间,不同发射天线的参考信号便会保持正交。但是,如果不能满足这个条件,就会破坏正交,从而产生通道间的串扰。再看图1所示的天线端口0,R1子载波位置上的信号功率表明存在串扰。通道间的定时误差或时延会导致R1子载波位置包含前一个符号的功率,VSA 将这种现象解释为通道间的串扰,其结果是报告的串扰值出现错误。

如欲检查MIMO信息表报告的定时误差,需要使用示波器来测量天线通道间的定时误差,如图7所示。经测量,生成天线0信号的ESG与生成天线1信号的ESG之间的定时误差约为2.35 ?s,该值与MIMO信息表报告的RS定时误差有关。

图 7――使用宽带多通道示波器测量天线通道 0 和 1 之间的定时误差

天线 1、天线2和天线3 ESG都是从天线0 ESG开始触发。示波器测出定时误差后,可通过调整天线1-3 ESG的码型触发时延来解决定时误差问题。

生成的MIMO信息表(图8所示)显示定时误差目前在134nS之内(仅为循环前缀的2.8%),可确保RS信号之间保持正交。现在正确显示的天线串扰值反映了图3中已建模的天线串扰。

图 8――包括校正定时误差和 RS 正交的 MIMO 信息表

如图9所示,满足RS正交条件后,复合EVM结果现为4.1%,远远低于之前报告的12.5% 。

 图 9――包括校正定时误差和 RS 正交的复合 EVM 结果

系统工程师可将RS EVM结果和复合EVM结果进行比较,从而确定不同误差机制对射频发射机 EVM误差的影响。例如,天线串扰可能不会影响RS EVM值,但会对复合EVM产生影响。另一方面,其他射频发射机减损,例如相位噪声和PA增益压缩都可对RS EVM和复合EVM产生负面影响。

总结

四通道MIMO测量存在许多测试难题,使得故障诊断和调试变得更具挑战性。本文介绍了发射天线定时误差,此误差有可能影响LTE MIMO参考信号正交,从而影响天线串扰、星座图和EVM 等测量结果。多通道宽带示波器非常适合进行双通道或四通道MIMO测量,并有助于诊断发射天线通道之间可能存在的定时误差。通过结合使用宽带多通道示波器和VSA软件,工程师能够从多个不同方面对MIMO信号进行测量和分析:时域、频域和调制域,根据测量结果对硬件性能问题进行故障诊断和隔离。通过对比RS EVM和复合 EVM,工程师能够了解不同误差机制(例如相位噪声、天线串扰、PA增益压缩)对射频发射机EVM误差的影响。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top