微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 综合电子系统集成测试解决方案

综合电子系统集成测试解决方案

时间:02-06 来源:互联网 点击:

• 为参试设备提供激励信号,并对其响应进行实时采集。I/O接口类型包括A664、MIL-STD-1553B、ARINC429、RS422、CAN、模拟量和离散量等;

•提供实时的环境仿真,并对交联设备进行实时并行仿真模拟,为各参试设备提供动态数据激励和半物理仿真测试环境;

•提供程控的配线切换和构型管理功能,对参与试验的真件和仿真件进行配置选择,对参试设备的供配电进行管理;

•提供试验过程中对各类接口数据和仿真模型的在线监控功能;

•提供人在环仿真、故障注入和断路测试等测试试验功能;

•提供自动化测试引擎和测试用例的编辑、调试、运行和管理环境;

•试验系统各部件之间采用IEEE1588和IRIG-B协议完成时钟同步。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top