加速测试系统的开发及简化系统的整合

发展测试系统时必须注意组建测试系统所需花费的成本和时间。规划不完善的测试系统可能会使成本急速增加，并造成令人沮丧的延迟。在本篇文章中，我们将为您介绍各种新的趋势，例如使用LAN作为系统I/O。您也可以从文章中发现评估及选择系统硬件和软件的新方法。本文所探讨的新概念，可以协助您加强现有及未来的测试系统设计。

电子功能测试

让我们看看在整个产品生命周期中的测试需求，并定义加速系统开发的架构。在功能测试方面，我们提供了一些解决方案，您可以选择依您的规格而开发的定制系统，或选用事先配置好的平台，以减轻开发测试系统的负担。

在产品生命周期中进行测试

看看我们的测试系统组合及其与产品生命周期的关系。首先我们把焦点放在以下三个阶段的测试需求：设计确认、设计验证与产品制造。我们会探讨安捷伦将生命周期中的各个需求，转化成提供开放式连接与容易整合的系统解决方案之硬件、软件与连接工具的一些方法。

设计确认通常需要最准确而先进的信号源与量测设备。测试仪器应具备交谈式功能与完整的面板控制，而且必须能够就定义完善的测试迅速提供回馈。这项工作需要能轻易连结各种工具，例如Microsoft Excel，但很少需要大量的程序设计或自动化测试。

设计验证阶段也有准确度上的需求，但其它方面会变得愈来愈重要。举例来说，之前提到深入发掘问题的过程意谓著要使设计达到极限，换言之需要执行许多测试，可能还得包含一些统计分析。这时需要一些程序设计，因此软件必须提供容易的程序设计能力，但仍具备多功能特性以便能执行任何一种分析。

产品制造阶段的主要目标在于降低成本。测试仪器在提供快速的产出和高可靠度上有很大的贡献。拥有较多内建能力的测试仪器也能达到降低成本的目的，但准确度可能会稍受影响。较不完整的产品测试（相较于确认阶段）也有助于成本的下降，因为在这种情况下通常可以减少仪器的使用数量、系统成本与测试时间。总之，必须利用各种软、硬件的组合来解决这些不同应用的需求。

硬件选项对开发和产出的影响

在系统设计过程中，您选择的仪器及在系统中配置仪器的方式，对于开发系统，以至最后执行一系列测试所需花费的时间有很大的影响。

当您开始勾勒系统结构时，可使用下列问题范例作为起点：

您需要较大的弹性来配合不断改变的量测需求、第二代产品的开发或未来的扩充需求吗？

您需要结合及再利用手边闲置的仪器吗？

可以设定一个互连面板，使其能够处理多个DUT吗？

系统（或复制品）可以出货到具有不同线路电压的地方吗？

类似以上问题的答案，可以激发您从更宽广及更长期的角度寻求改善系统结构再利用性的方法。

使用开放式标准的好处

我们的测试方法的基础在于广泛采用PC产业的标准，这些标准具备了普及、可靠和经济等优点。以下是我们的测试方法的三个主要部分：

标准软件－我们支持各种标准PC软件，这表示您可以在自己偏好的环境中工作，例如试算表、文字编程或视觉编程。

标准I/O－适当的I/O可协助您依主要的应用将系统调整到最佳状态：GPIB适用于采用传统设备的独立式系统；USB适用于简单的独立式系统；LAN适用于必须与组织的其它部分进行通讯的复杂系统。

系统式仪器－为了在系统中使用而最佳化的独立式仪器，这些仪器可协助您解决从研发到制造的所有测试需求而不必变更硬件。

利用LAN

过去GPIB（或HP-IB）是仪器I/O的预设选项。跟软件一样，工作的最佳界面也与产品生命周期有关。就制造而言，LAN界面提供了最佳的系统弹性及跨组织连接能力。我们最新推出的电源供应器系列Agilent N5700和N6700备有三种I/O：GPIB、USB和LAN。您只要使用拥有适合您的系统的优点和能力的界面就行了。

LXI象征测试的未来

由知名的测试与量测公司及用户所组成的联盟，于2005年9月26日发表了测试系统的新标准LXI（LAN eXtensions for Instruments）。在一年前成立的LXI联盟，已开始着手提升系统的速度、降低系统成本、缩小系统尺寸、减少系统设定时间及加强软件的应用。使用以太网络（IEEE 802.3）作为主要的通讯媒介，他们企图利用计算机产业既有的成果。直接利用一些现有的以太网络标准、网际网络工具、LAN协定、IEC实体尺寸和IVI驱动程序，他们看到了朝更快速I/O发展、拿掉卡槽和昂贵的I/O接线、及妥善利用软件的机会。这个联盟发现他们能开发出比基于迅速改变的计算机背板还要更持久耐用的结构。开发一个依可靠的产业标准而组建的结构，可让他们充分利用现有的成果，并为测试系统开发人员提供一个持久的解决方案。

LXI标准包含下列部分：

• LXI的