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DDR测试技术和定时分析工具是否跟上了时代步伐

时间:02-27 来源:互联网 点击:

对于DDR信号路径(通道)鉴定和电路板/DIMM检验,泰克公司带有TDR模块和S参数分析软件的DSA8200采样示波器可以帮助工程师高效、简单地完成阻抗测量、插入损耗和回波损耗、串扰等测量项目,完成整个分析项目只需几分钟。该示波器的采样带宽>

版本)确保了DDR探测信号保真度。 泰克的TriMode(三模)探测技术使用单条探头与DUT链接,不仅可完成传统差分测量,而且可切换成在任一输入上进行独立单端测量或直接进行共模测量。以往,完成这些需要3个独立探头(见图3)。

左图:以往1只探头用于差分测量、2只探头用于单端测量和共模测量或1只探头焊接和重焊三次、2只探头用于共模测量。

右图:1只TriMode探头,通过切换进行差分测量、单端测量和共模测量。

前文提到过,DDR信号不同于其他信号,其数据信号是双向的,读信号和写信号同时出现在信号线上。人们很难判断当前捕获到的数据是读信号还是写数据,这就给测试效率会很低,也比较容易出错。有了泰克公司的DDR自动测试软件选项如DDRA和DPOJET,就可使上述信号采集和分析问题迎刃而解,而且可以加速验证过程。DDRA的功能特性包括但不限于:

1.新的自动配置向导,引导用户简便地完成设置和测试配置;

2.可识别和分析整个采集中的所有读/写突发;

3.为读和写绘制DQS和DQ眼图;

4.使用Pass/Fail极限执行JEDEC一致性测试;

5.使用片选判定多排测量;

6.简便地在一致性测试工具和分析/调试工具之间切换;

7.使用Pass/Fail信息、统计测量结果和测试设置信息,自动生成合并报告。

DDRA不是一种独立式工具,可直接与泰克强大的抖动、眼图和定时分析工具DPOJE连接,完成更多测量项目:

1.周期/频率、占空比、幅度、上升/下降时间测量;

2.高级抖动、眼图测量和Pass/Fail测试;

3.多个显示和绘图选项;

4.报告生成器等。

对于DDR的数字调试和验证,泰克的TLA7000系列逻辑分析仪+Nexus分析软件和NEXVu插卡式DIMM夹具提供了世界领先的DDR2/3存储器数据采集、分析和协议检验及调试解决方案。

图4:泰克最新的解决方案加快和改善了DDR2/3的数字验证和调试步骤。

泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夹具探测解决方案layout符合JEDEC规范,可探测存储器IC信号,逻辑分析仪连接位置超出了普通DIMM高度,DIMM内部带有隔离电阻,降低探头负载效应,可实现最大的信号完整性堪称业界最佳的IC颗粒数字信号测量方法。

泰克提供的最新DDR3逻辑分析仪模块TLA7BBx是唯一可以捕获所有DDR3速度的逻辑分析仪,提供了足够高的定时分辨率,支持全面调试。同时提供了足够灵活的触发状态机,只触发相关事件。其通道数量可以扩充,且足够高,可以捕获所有要求的信号。

搭载的Nexus存储器支持套件有效提高了数据分析性能,检验和调试存储器系统操作(包括数据有效窗口、读/写数据操作、DDR命令和模式寄存器初始化),可迅速简便地识别协议违规。

将上述设备、工具和软件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器,泰克提供了一个全面了解系统特点的平台验证系统(如图5)。这是业界唯一能够捕获和分析所有DDR3速度的解决方案,在所有通道上一直提供了高达20ps的定时分辨率,支持选择性时钟输入,只存储实用数据,并且数字/模拟相关联,可查看整个系统情况。

图5:泰克的DDR平台验证系统可全面了解系统特点。

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