电子元器件静电防护措施

以内的整个电压范围进行。因为有些IC可能在10kV时通过了测试，但在4kV时反而被ESD打坏了，这样的IC实际上没有抗静电能力。人体模型和IEC1000-4-2标准规定在测试电压范围内必须以200V为一个间隔进行测试，而且要同时测试正负电压。也就是说，从±200V开始测试，±400V，±600V，一直到最高测试电压。对IC的所有可能的工作模式都应分别进行完整的ESD测试。包括上电工作状态，断电停机状态，如果串行接口器件有自动关断休眠模式，还应对这一状态再进行一次ESD测试。所有相关的测试标准和程序都规定，在每个测试电压点，对被测引脚应连续放电10次，考虑到正负电压都要测，实际要放电20次。每一轮放电完成后，应测量被测器件的相应参数，判断器件是否损坏。对于串行接口器件（RS-232，RS-485）应遵循以下判据：

　　●电源电流是否正常（电源电流增加一般意味着发生了器件死锁）;

　　●信号发送输出端的输出电平是否仍在参数规格范围内;

　　●信号接收输入端的输入电阻是否正常（一般在3kΩ到7kΩ（之间）。

　　只有这些指标都合格，才可转到下一个电压测试点。在所有电压点都测试完以后，还应对IC做全面的功能测试，测量IC的每个参数是否仍在参数标准定义的范围内。只有通过所有这些ESD测试后仍能达到规定参数标准的IC才是真正的抗静电IC。需要注意的是，按一般标准完成ESD测试，但并不能判断IC的好坏。有些ESD测试仪自带了一些参数测量功能，但因不是针对特定器件的参数测量，只是一般的测试手段，因而只能作为一个参考。严格的测试仍应按以上所述的测试程序和测试判据进行。