在通用自动测试仪上实现SPI 存储器测试的方法研究

序算法并行化处理，最终给出区别存储器地址和其他输入信息的控制逻辑。

3.1 棋盘格算法测试

以AT25HP512 棋盘格测试为例，串行SPI 存储器测试可分为以下步骤。

(1)并行转串行。存储器待收发的数据和指令都以8 位并行的方式放置在内部寄存器中，因此要借助ATE 并行转串行输出功能，将8 个通道的数据从一个通道输出。以并行转串行指令PTOS 为例，PTOS 00000101,相当于从SI 引脚在8 个周期串行输出0 0 0 0 0 1 0 1 ;

(2)将指令寄存的数据以8 位并行方式连接到测试通道上。

以读状态寄存器命令为例，SI 要输出的数据连接到不同通道，再由并转串逻辑电路输出。读出的结果与预期值进行比较。

表1 相当于执行了读状态寄存器命令RDSR,本例中读回的预期结果为LLLLLLLL.

(3)设置状态寄存器。发送写状态寄存器命令WRSR,设置存储器为写READY 状态。

(4)将8 位地址线连接到AGP 相关的通道上。

(5)为了能在SI 引脚上既能输出地址又能输出指令和数据，要设置多路选择单元，完成切换。切换控制位可以由通道位完成。图4 为测试通道控制的寄存器输入切换，控制位为0,SI引脚切换至地址线，控制位为1,SI 引脚切换至数据线和指令线。

应用该开关，就可以把需要使用算法的地址和不需要利用算法的指令和数据在通道上分开。

(6) 完成向存储单元写入数据的操作。表2 实现了连续写一页的函数PAGEWRITE 操作，从0 地址开始连续进行128 个写操作，把00000000 和11111111 的棋盘格数据交替写入一页中。

(7) 利用AGP,实现页地址递增操作。每一页写都调用PAGEWRITE,每完成一次页写操作，页地址自动加1,执行下一页的写操作，直到全部页的写操作完成。表3 为每调用一次单页写，页地址自动加1 的操作。

(8) 读并检验结果操作。与写操作类似，给出读指令和起始地址后，可连续读出所有单元。

以上方法，首先完成了逐页的连续写操作，页地址可自动递增，每完成一次正向棋盘格(按0101 格式)写操作后，再以0 地址为起始地址，完成整个器件地址自动递增的连续读操作。然后再按照相同的方法执行一次反向棋盘格(按1010 格式)的写、读，从而实现完整的棋盘格测试。

3.2 其他测试算法

在实际工程中应用最多的是存储器测试法算法复杂度为N的测试算法，除棋盘格测试法外，较为常用的还有齐步法、列条图形法和前进后退法等。应用这些算法测试SPI 存储器都与棋盘格测试类似，只是AGP 自动产生算法的方式不同，本文不再详述。

4 结语

本文分析了SPI 串行存储器的结构和访问方式，利用通用自动测试仪的并行转串行指令，增加了选通控制逻辑，为ATMEL公司的SPI 串行存储器AT25HP512 编写了测试程序，该程序最终以二进制代码的形式顺序存储于测试仪中。实验证明，该方法可以克服SPI 存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。