USB3.0的物理层接收端的测试方法

2, USB3.0 Electrical Compliance Methodology White Paper, Revision 0.5.

3, LeCroy USB3.0 Datasheet.

　　USB简介

USB(Universal Serial Bus)即通用串行总线，用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机，它使计算机与周边设备的接口标准化，从2000年以后，支持USB2.0版本的计算机和设备已被广泛使用，USB2.0包括了三种速率：高速480Mbps、全速12Mbps、低速1.5Mbps。目前除了键盘和鼠标为低速设备外，大多数设备都是速率达480M的高速设备。

尽管USB2.0的速度已经相当快，对于目前高清视频和动辄GByte的数据传输还是有些慢，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0又称为Super Speed USB，比特率高达5Gbps，相比目前USB2.0的480Mbps的速率，提高了10倍以上，引用Intel专家Jeff Ravencraft的话：“以25GB的文件传输为例，USB2.0需要13.9分钟，而3.0只需70秒左右。”25GB，正好是单面单层蓝光光盘的容量。USB3.0预计将在2010年逐渐在计算机和消费电子产品上使用。

力科于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试解决方案，能提供端到端的互操作测试和兼容性测试，包括了Transmitter测试、Receiver测试、TDR测试。此外，力科还提供了业界领先的USB3.0协议层测试方案。

　　USB3.0的Transmitter测试

对于USB3.0的Transmitter测试，为了测量到5次谐波，需要带宽12.5GHz以上的示波器，力科的SDA813Zi带宽13GHz，采样率40GSamples/s(最高可达80GS/s)，配合USB3.0一致性测试软件QualiPHY、眼图医生软件和测试夹具，可以快速完成USB3.0的发送端Compliance测试和调试分析。

QualiPHY软件可以使USB3.0发送端的各项测试自动化，并生成多种格式的测试报告。在QualiPHY的USB3.0测试软件中，包括差分电压摆幅测试、去加重比值测试(De-emphasis ratio test)、眼图和抖动测试、扩频时钟测试(Spread Spectrum Test)，图1所示为报告中的整体测试项目概览，列出了测试项目对应的Spec的条目，测试项目的名称，当前测试结果，测试判定条件等。

在发送端测试中，通常需要消除USB3.0的测试夹具引入的损耗和反射。如下图1所示为USB3.0发送端测试示意图：夹具插到待测试芯片的USB口，夹具上通过PCB的传输线USB口引出到4个SMA连接头(USB3的TX和RX各两个)，然后用SMA接口的同轴电缆连接到示波器。由于夹具上的连接器、过孔、传输线等会使信号发生衰减、色散或者反射，导致示波器测量到的信号有所恶化。力科的眼图医生软件包括了夹具去嵌功能，只需输入夹具的S参数模型文件(可由VNA或者TDR测量得到)，即可计算出没有夹具时测量到的信号的波形与眼图。

如图2左下部分所示为示波器测量的USB3.0信号去嵌后测量到的眼图，图1右下部分是示波器直接测量到的眼图(即未作夹具去嵌的眼图)，相比后者，前者的上升下降沿更陡峭，眼轮廓清晰，眼张得更开。从这个比较图中可以看到力科的去嵌技术可以消除测试夹具的负面作用。使用夹具去嵌功能后，可以更加准确的测量电压摆幅和去加重的比值。

　　图1: 力科一致性测试软件QualiPHY产生的报告一部分

　　差分电压摆幅测试

差分电压摆幅测试的目的是验证信号峰峰值是否在0.8-1.2V之间。测试中Device Under Test(简称DUT)需要发送出测试码型CP8(CP是Compliance Pattern的简写，在USB3的物理层测试中，各项测试需要不同的测试码型，USB3.0规范中定义了各种测试码流，USB3.0的芯片厂商提供了软件接口来配置其发送数据的码型)，CP8由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成，而且消除了去加重，其波形相当于50-250分频的时钟。在这些测试中，把USB3.0测试夹具去嵌后测量结果更精确。

　　去加重比值测试

为了把5Gbps速率的数据传送较远的距离，USB3.0的发送端使用了去加重技术，这项测试可以测量DUT的去加重程度是否满足规范要求(要求在-3dB到-4dB之间)。测试时DUT发送出CP7码流，CP7码型由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成，而且是添加了去加重的信号波形。图3为某USB3.0芯片的去加重测量结果，该芯片采用了-3.47dB的去加重。

　　图3：某USB3.0芯片的去加重比值测量

　　眼图与抖动测试

在USB3.0的TX的眼图和抖动测试中，测量的是待测试信号经过参考测试信道后TP1点的眼图和抖动。如下图4中的Reference test channel即为参考测试信道，在规范中定义了long channel、short channel和3米电缆三种参考测试信道。如果