时域反射和传输的S参数测量
CA86100数字通信分析仪由86100C主机和两个54754A差分TDR模块组成,内置隧道二极管的阶跃脉冲发生器,上升时间25ps。在86100C选件202(增强阻抗和S参数测量)软件支持下,DCA86100具有18GHz带宽,能够测量32项S参数,同时显示6个S参数,具有广泛的校准和测量功能,动态范围超过45dB 。将基于TDR/TDT的S参数测量结果与安捷伦的PNA系列四端口20GHz精确矢量网络分析仪的测量数据相比较,在10GHz的频率范围内两种结果高度匹配。图6是输入端口差分损耗SDD11的对比曲线,红色曲线由VNA方法测得,蓝色曲线由TDR/TDT方法测量,证实基于TDR/TDT的S参数测量技术具有很高可信度。
DCA86100主机还可配用86118A单端双通道模块,带宽可达到70GHz,而且使用远端探头,缩短TDR/TDT参考平面与被测元件之间的距离。但是86118A的阶跃脉冲发生器的上升时间约为25ps,为了充分发挥70GHz带宽的S参数测量能力,需要使用上升时间10ps的阶跃脉冲发生器,安捷伦公司提供的第三方PSPL(皮秒实验室)公司的4020脉冲增强模块,能够产生9ps的阶跃脉冲信号,配备86118A/4020模块的基于TDR/TDT的S参数测量设备,代表当前达到的最高水平。
泰克的DSA8200数字串行分析仪,它主要用于测量各种高速串行链路网络特性,包括时域反射、S参数、信号可信度和噪声。目前DSA8200具有业界的最低噪声和时间抖动最小,同时提供多种插件,从带宽10GHz至70GHz的选件,而且阶跃脉冲发生器的上升时间是12ps。例如配合80E10取样插件的DSA8200,它的带宽达到70GHz,动态范围70dB,最多可安装8个80E10插件,实现8通道输入,为多端口的S参数测量提供方便。泰克还提供差分TDR/TDT的取样插件。
DSA8200采用基于TDR/TDT的S参数测量的软件是IConnect,它的取样点达到1M点,校准过程简化,提高测量精度,缩短测量时间。DSA8200使用差分TDR/TDT测量方式获得如下的S参数带宽:
在上述数字中入射波上升时间就是阶跃脉冲发生器的上升时间。对于80E10来说,上升时间12ps可获得S参数测量的50GHz带宽。此时可测量短距离同轴线的1mm不连续点,以及100m长的电缆组合的S参数。在这种测量环境下,基于TDR/TDT的S参数测量比VNA技术更方便和精确,并且提供更多的信息。
图6 两种测量方法获得的S参数的符合程度
力科的WaveExpert数字取样示波器配合ST-20TDR模块,能够实现单端、差分的基于TDR/TDT的S参数测量。取样示波器的带宽可达100GHz,它采用PSPL公司提供的取样头,目前是业界水平最高的取样部件。ST-20模块的带宽是20GHz,阶跃脉冲时间是20ps,取样点采集长度是10万点,显然,ST-20模块的S参数测量带宽还有提高的潜力,力科公司将有更好的基于TDR/TDT的S参数测量设备推出。
还有上面提到的PSPL公司是皮秒脉冲测量仪器供应商,产品包括通用和专用脉冲发生器和阶跃脉冲发生器,取样示波器模块和取样门等,用户需要扩展以上三家S参数测量设备的特性或自行构建S参数测量设备,可考虑采用该公司的产品作为优选的部件。
基于TDR/TDT的S参数测量的误区
为了正确使用基于TRD/TRT的S参数测量方法,需要避免一些错误概念,主要表现为:
第一,完全代替VNA。VNA能够测量有源和无源的元器件,是阻抗域测量仪器中功能最全面,、最准确的设备。目前基于TRD/TRT的S参数测量只能够解决同轴线、电缆等的无源S参数测量,而且以VNA作为测量对比的标准。
第二,选择高取样率的数字存储示波器。数字存储示波器的带宽取决于取样率的提高,但基于TRD/TRT的S参数测量的带宽与取样率无关,而取决于阶跃脉冲的上升时间。因而,基于TRD/TRT的测量无需选用时域测量仪器中功能最全面,取样率最高的数字存储示波器,只要使用数字取样示波器即可。
第三,VNA的背景噪声最低。VNA使用带通滤波器和数字滤波器,具有很低的背景噪声。同样数字取样示波器使用多次平均运算,亦能显著提高信噪比。VNA的低频从100KHz或1MHz开始,而TRD/TRT的低频一直延伸至DC,后者具有更好的低频特性。
第四,基于TDR/TDT的测量的动态范围较低。早期TDR/TDT测量的动态范围只有40dB,近年来取得进展,在带宽20GHz以上时动态范围扩大到70dB,加上使用数据多次平均降噪技术,动态范围进一步得到改善,为同轴线、微带、电缆的S参数测量提供足够的动态范围。
结语
基于TDR/TDT的S参数测量是一种成功的测量技术,过去通过时域—频域的变换和反变换使两域沟通起来,现在通过时域—频域变换—S参数运算使时、频、阻抗三域沟通起来,域际互通测量技术的前景更加广阔。
测试测量仪器中VNA是最高级和最昂贵的设备,一般实验室
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