基于SIR结构的双频宽带耦合器
时间：09-09
来源：互联网
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仿真值
| 回波损耗(dB) | -14.6 | -16.6 | -17.3 | -29.6 |
| 插入损耗(dB) | -3.3/ -3.48 | -3.16/ -3.39 | -3.24/ -3.35 | -3/ -3.24 |
| 相位差(deg） | 90.2 | 87.7 | -91.2 | -90.67 |
| 测量值 | 回波损耗(dB) | -19 | -19.5 | -26.8 | -18.2 |
| 插入损耗(dB) | -3.3/ -3.5 | -3.32/ -3.49 | -3.5/ -3.7 | -3.7/ -3.8 | |
| 相位差(deg） | 91 | 91.8 | -87 | -85 |
4 结论
本文介绍了一种分支线采用SIR结构的宽带双频耦合器。这种耦合器引用了四根S31的分支线，并在这些分支传输线上采用SIR结构。通过改变SIR结构上传输线的阻抗，该耦合器实现了在工作的双频段（高低频段）上带通特性，且可以灵活地调节谐振点的位置，有效地扩展带宽。在1.8-2.45GHz和5.2-5.8GHz两段频段内有较好的特性，既满足GSM的1.8GHz频段的系统，也满足无线局域网(WLAN)系统要求。
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- 检测无源 RFID 电子标签谐振频率的耦合器之关键技术研究(11-01)
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