TKScope嵌入式仿真开发平台介绍
时间:10-10
来源:互联网
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2. 多集成开发环境(IDE)的支持
TKScope与全部主流IDE环境无缝嵌接,TKStudio,zig—Logic,CCS,Keil,ADS,RealView,IAR,AVRStudio等。
TKScope高度平台兼容性允许用户选择最适合的集成开发环境,这种特性在当前的嵌入式开发中非常关键。因为不同的项目或项目中的不同部分对IDE有着不同的要求,用户会根据需要选择不同的IDE进行开发;如果仿真硬件不支持当前选定的IDE平台,更换IDE平台将造成巨大的时间延误。
3.硬件自检功能
TKScope带有硬件自检功能。在仿真任意一种芯片前,都可以启动硬件自检。自检程序根据当前要仿真的芯片,对需要使用的硬件进行全面检查,检查的硬件范围包括主机、连接电缆、POD头和目标芯片的验证等。自检的结果通过屏幕显示给用户,用户可以准确的了解当前目标系统是否存在问题以及问题出在何处。
4.模块化硬件设计
TKScope仿真开发平台采用标准模块化设计,具有高度兼容性。只需极少的POD添置即可覆盖仿真全部芯片,节省您的POD购置费用。
例1:只需一款POD一8051Hs就可同时仿真如下不同厂家不同封装的芯片:
P89V51RD2,标准8051,PLCC44和DIP40封装;
P89C554,标准8051,PLCC68封装;
DS89C430,增强型8051,PLCC44和DIP40封装;
W79E548,增强型8051,PLCC68封装。
例2:只需一款POD—ARM—JTAG一DP20就可仿真全部ARM芯片。包括Correx系列。
5.多种测量分析工具
TKScope嵌入式综合仿真开发平台提供优质仿真性能,内嵌多种测量工具,让您的开发更加得心应手。
◎专业逻辑分析仪,zlgLogic高级软件全面支持
·最大64路输入信号,200M采样速度,1MB存储深度。
·创新的触发测量方式和崭新的分析测量手段,令测量更加简单快捷。
·可设置边缘/电平/总线等基本触发方式和高级复杂触发方式,方便易用。
·人性化软件轻松完成信号测量、触发设置、动态帮助、软件升级等功能。
·内部32路缺省仿真MCU信号,参与显示和触发。
·仿真模块和逻辑分析仪模块紧密关联,可同时独立运行或停止。
·多文档结构可让您在测量的同时观察和比较其他数据。
·强大的数据导出功能支持对测量信号进行二次分析成为可能。
·柔性频率设置突破传统的1、2、5进制,使得测量更加精确。
·动态升级的硬件算法使您的测量手段与时并进。
◎内嵌多种专业分析工具,协助改善程序结构,优化代码性能·代码/数据覆盖分析,最大512KB容量,运行中结果可见。
·代码/数据性能分析,最大512KB容量,运行中结果可见。
·轨迹加彩显示,最大512KB容量,运行中结果可见。
·超级代码跟踪,最大512KB容量,位同步时间记录和PC记录,SFR和R0一R7记录。
·复杂断点设计,包括数据读写操作断点,地址范围判断断点,堆栈溢出断点等。
·时间断点功能,最大600小时/10ns精度,方便用户特殊仿真要求。
用户在ARM内核仿真中,会遇到各种异常情况导致仿真无法进行,或仿真功能无法满足要求,主要原因是仿真器功能不全。针对用户的问题,TKScope系列在以下几个方面进行了功能强化,协助用户解决ARM仿真中遇到的各种异常问题。
1 支持多种类型ARM内核
TKScope支持全系列ARM内核的仿真,包括Cortex系列,同时支持Thumb模式。
目前,TKScopc支持ARM内核种类如下:ARM7TDMI、ARM7TDMI-S、ARM7EJ-S、ARM720T;ARM9TDMI、 ARM920T、ARM922T、ARM926EJ-S、ARM946E-S、ARM966E-S;Cortex-M1/M3/A8;PXA255、 PXA270。
TKScope后续支持ARM1O、ARM11、Cortex-R4等内核。
2 无缝嵌接多种主流IDE环境
TKScope仿真ARM内核,无缝嵌接当前多种主流IDE环境,如Kei1、ADS、IAR、CCS、TKStudio等,并具备其高级调试功能,保持您的开发平台始终如一。
3 支持任意类型Flash器件编程
TKScope支持片内/片外Flash在线编程/调试,片外Flash支持多种接口类型器件,如 NOR/NAND/SPIFlash。TKScope驱动提供绝大多数常用Flash器件的编程算法文件,同时公开Flash编程算法接口,支持用户自行编写、添加Flash算法文件。
用户可通过TKScope驱动中的[程序烧写]界面,添加需要仿真的Flash算法文件。同时,TKScope提供独立的在线编程软件K-Flash,支持Flash器件的烧写、读取、擦除等操作。K-Flash软件支持bin、hex、elf等多种类型文件的烧写。

4 支持无限制数量Flash断点
在ARM内核中,一般只支持2个硬件断点。TK-Scope支持无限制数量的Flash断点和RAM断点,突破硬件断点数量的限制,让用户调试更加方便。 TKScope采用同步Flash技术,快速刷新Flash断点,如同 RAM调试一样快捷;而且,多个Flash断点只执行一次编程操作,不会出现每次继续运行都重复编程Flash断点的现象,大大节省了用户调试的时间。
图4中,选中①,则可实现RAM中无限制断点调试;选中②,则可实现Flash中无限制断点调试;选中③,则Flash断点不会重复编写,加快Flash 断点调试速度。一般情况下,上述3项全部选中,可以保证用户方便快捷的调试。例如,用户选择在Flash中调试,程序中设置10个断点,那么进入调试状态之后,执行全速运行操作,则出现图4所示的进度条,提示编程Flash断点。

TKScope仿真器只执行上述一次编程Flash断点的过程,遇到断点停止,然后继续运行时,不会再重复出现上述编程Flash断点的过程。
但是,目前市面上几乎所有的ARM仿真器都是重复编程Flash断点的。也就是说,程序执行遇到断点停止,再次运行时,Flash断点编程过程会再执行一次。这样,程序中设置有10个断点,使用TKScope仿真器可以节省9次编程Flash断点的时间,大大提高用户仿真效率。5提供完善的初始化文件 TKScope内置全面的初始化文件解释执行器,可在复位前后/运行前后/Flash下载前后进行灵活的系统设置,包括寄存器设置/ARM初始化/时钟设置/延时/信息提示等操作。初始化文件是保证ARM芯片正常运行的至关重要的组成部分。TKScope打破基于内核仿真的设计理念,实现基于芯片的仿真模式,结合芯片的功能特点,提供完善的最佳的初始化文件。

TKScope与全部主流IDE环境无缝嵌接,TKStudio,zig—Logic,CCS,Keil,ADS,RealView,IAR,AVRStudio等。
TKScope高度平台兼容性允许用户选择最适合的集成开发环境,这种特性在当前的嵌入式开发中非常关键。因为不同的项目或项目中的不同部分对IDE有着不同的要求,用户会根据需要选择不同的IDE进行开发;如果仿真硬件不支持当前选定的IDE平台,更换IDE平台将造成巨大的时间延误。
3.硬件自检功能
TKScope带有硬件自检功能。在仿真任意一种芯片前,都可以启动硬件自检。自检程序根据当前要仿真的芯片,对需要使用的硬件进行全面检查,检查的硬件范围包括主机、连接电缆、POD头和目标芯片的验证等。自检的结果通过屏幕显示给用户,用户可以准确的了解当前目标系统是否存在问题以及问题出在何处。
4.模块化硬件设计
TKScope仿真开发平台采用标准模块化设计,具有高度兼容性。只需极少的POD添置即可覆盖仿真全部芯片,节省您的POD购置费用。
例1:只需一款POD一8051Hs就可同时仿真如下不同厂家不同封装的芯片:
P89V51RD2,标准8051,PLCC44和DIP40封装;
P89C554,标准8051,PLCC68封装;
DS89C430,增强型8051,PLCC44和DIP40封装;
W79E548,增强型8051,PLCC68封装。
例2:只需一款POD—ARM—JTAG一DP20就可仿真全部ARM芯片。包括Correx系列。
5.多种测量分析工具
TKScope嵌入式综合仿真开发平台提供优质仿真性能,内嵌多种测量工具,让您的开发更加得心应手。
◎专业逻辑分析仪,zlgLogic高级软件全面支持
·最大64路输入信号,200M采样速度,1MB存储深度。
·创新的触发测量方式和崭新的分析测量手段,令测量更加简单快捷。
·可设置边缘/电平/总线等基本触发方式和高级复杂触发方式,方便易用。
·人性化软件轻松完成信号测量、触发设置、动态帮助、软件升级等功能。
·内部32路缺省仿真MCU信号,参与显示和触发。
·仿真模块和逻辑分析仪模块紧密关联,可同时独立运行或停止。
·多文档结构可让您在测量的同时观察和比较其他数据。
·强大的数据导出功能支持对测量信号进行二次分析成为可能。
·柔性频率设置突破传统的1、2、5进制,使得测量更加精确。
·动态升级的硬件算法使您的测量手段与时并进。
◎内嵌多种专业分析工具,协助改善程序结构,优化代码性能·代码/数据覆盖分析,最大512KB容量,运行中结果可见。
·代码/数据性能分析,最大512KB容量,运行中结果可见。
·轨迹加彩显示,最大512KB容量,运行中结果可见。
·超级代码跟踪,最大512KB容量,位同步时间记录和PC记录,SFR和R0一R7记录。
·复杂断点设计,包括数据读写操作断点,地址范围判断断点,堆栈溢出断点等。
·时间断点功能,最大600小时/10ns精度,方便用户特殊仿真要求。
用户在ARM内核仿真中,会遇到各种异常情况导致仿真无法进行,或仿真功能无法满足要求,主要原因是仿真器功能不全。针对用户的问题,TKScope系列在以下几个方面进行了功能强化,协助用户解决ARM仿真中遇到的各种异常问题。
1 支持多种类型ARM内核
TKScope支持全系列ARM内核的仿真,包括Cortex系列,同时支持Thumb模式。
目前,TKScopc支持ARM内核种类如下:ARM7TDMI、ARM7TDMI-S、ARM7EJ-S、ARM720T;ARM9TDMI、 ARM920T、ARM922T、ARM926EJ-S、ARM946E-S、ARM966E-S;Cortex-M1/M3/A8;PXA255、 PXA270。
TKScope后续支持ARM1O、ARM11、Cortex-R4等内核。
2 无缝嵌接多种主流IDE环境
TKScope仿真ARM内核,无缝嵌接当前多种主流IDE环境,如Kei1、ADS、IAR、CCS、TKStudio等,并具备其高级调试功能,保持您的开发平台始终如一。
3 支持任意类型Flash器件编程
TKScope支持片内/片外Flash在线编程/调试,片外Flash支持多种接口类型器件,如 NOR/NAND/SPIFlash。TKScope驱动提供绝大多数常用Flash器件的编程算法文件,同时公开Flash编程算法接口,支持用户自行编写、添加Flash算法文件。
用户可通过TKScope驱动中的[程序烧写]界面,添加需要仿真的Flash算法文件。同时,TKScope提供独立的在线编程软件K-Flash,支持Flash器件的烧写、读取、擦除等操作。K-Flash软件支持bin、hex、elf等多种类型文件的烧写。

4 支持无限制数量Flash断点
在ARM内核中,一般只支持2个硬件断点。TK-Scope支持无限制数量的Flash断点和RAM断点,突破硬件断点数量的限制,让用户调试更加方便。 TKScope采用同步Flash技术,快速刷新Flash断点,如同 RAM调试一样快捷;而且,多个Flash断点只执行一次编程操作,不会出现每次继续运行都重复编程Flash断点的现象,大大节省了用户调试的时间。
图4中,选中①,则可实现RAM中无限制断点调试;选中②,则可实现Flash中无限制断点调试;选中③,则Flash断点不会重复编写,加快Flash 断点调试速度。一般情况下,上述3项全部选中,可以保证用户方便快捷的调试。例如,用户选择在Flash中调试,程序中设置10个断点,那么进入调试状态之后,执行全速运行操作,则出现图4所示的进度条,提示编程Flash断点。

TKScope仿真器只执行上述一次编程Flash断点的过程,遇到断点停止,然后继续运行时,不会再重复出现上述编程Flash断点的过程。
但是,目前市面上几乎所有的ARM仿真器都是重复编程Flash断点的。也就是说,程序执行遇到断点停止,再次运行时,Flash断点编程过程会再执行一次。这样,程序中设置有10个断点,使用TKScope仿真器可以节省9次编程Flash断点的时间,大大提高用户仿真效率。5提供完善的初始化文件 TKScope内置全面的初始化文件解释执行器,可在复位前后/运行前后/Flash下载前后进行灵活的系统设置,包括寄存器设置/ARM初始化/时钟设置/延时/信息提示等操作。初始化文件是保证ARM芯片正常运行的至关重要的组成部分。TKScope打破基于内核仿真的设计理念,实现基于芯片的仿真模式,结合芯片的功能特点,提供完善的最佳的初始化文件。

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