基于ARM控制器LPC2214的嵌入式系统研究与开发

                                                 图 3

4　ARM体系中的调试

调试阶段在整个系统开发过程中所占的比重越来越大，因此拥有高效、强大的调试系统可以大大减少开发时间，加快产品面市时间，减轻系统开发工作量。ARM体系结构包含了完善的调试手段，下面仅介绍基于JTAG的ICE类型调试的原理。

4.1 基于JTAG的ICE类型调试

基于JTAG的调试系统结构（图4）包括：位于主机上的调试器、目标系统、主机和目标系统之间进行分析和转换的模块。JTAG调试是边界扫描方式，LPC2214微核电路部件的每个I/O引脚包含一个电路元件，此元件的接口连接到JTAG二进制位移位寄存器上进行测试，这样每个引脚都被JTAG采样或监听。ARM7TDMI（图2）的TAP控制器通过JTAG接口控制各个硬件扫描链，扫描链0可以访问所有外围部件；扫描链1是扫描链0的一部分，它可以访问数据总线和控制总线BREAKPT；扫描链2主要用于访问Embedded ICE逻辑部件中的各寄存器。ARM7TDMI调试接口建立在IEEE1149－1190标准之上，该标准定义了访问芯片的5个引脚串行通讯协议，可以通过5个引脚访问芯片内部，从而可以进行调试和测试。JTAG调试过程：

①  设置程序断点、数据断点或相应外部请求，以便进入调试状态；

②  当程序运行到断点指令时，处理器进入调试状态，此时断点指令还没执行；

③  在调试状态用户执行所需的调试能，如停止目标程序执行、查看目标内核状态、查看和修改存储器的内容等。

                                               图 4

5．结束语

本文通过对嵌入式实时操作系统μC/OS-II中的关键技术及ARM体系组结构和调试的分析，结合LPC2214的硬件结构和运行环境，说明了μC/OS-II的移植、PLPC2214的应用和调试。