微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > MCU和DSP > 热插拔可靠性的新标准

热插拔可靠性的新标准

时间:07-19 来源:互联网 点击:
本文小结
      
单片功率器件极为稳健,而且可以解决诸多与模拟控制器/功率FET 解决方案相关的可靠性问题,包括能够承受电感尖峰、缓慢打开和闭合转换以及内在保护SOA 参数的能力。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top