32 Gbps 高速SerDes 量产测试方案

4测试结果

应用UDI的方案我们对32 Gbps SerDes芯片进行了PRBS15 Loopback测试，UDI测试的眼宽眼高分别为19ps,270mV(图9)，和DCA量测结果(图9)基本保持一致。


图8：UDI眼图SHMOO扫描


图9：DCA 实测结果

5 结论

Nautilus UDI方案提供是一套实现高速I/O接口特性测试及量产测试自动化的完善方案，一经推出即得到许多国内外客户的认可，并且与国内某知名半导体公司合作，实现了多个25～32G Bps SerDes芯片的稳定量产，相信未来能够帮助更多还在为高速SerDes测试而困扰的客户解决高速I/0测试这个难题。

参考文献：

[1]   SERDES 百度文库．201-07-17[引用日期2016-12-26]
[2]  刘潇骁,SerDes电路的可测性集成设计与机台测试，《国防科学技术大学》, 2013
[3] D. Keezer, D. Minier, P. Ducharme and A. Majid, “An Electronic Module for 12.8 Gbps Multiplexing and Loopback Test,” IEEE International Test Conference 2008.
[4] Eric Bogatin. Signal and Power Integrity - Simplified, Second Edition. Upper Saddle River, New Jersey: Prentice Hall. 2009. ISBN 978-0-13-234979-6.