应用举例1：IDDQ测试

如果源在箝位状态，那么器件损坏并且中断测试

if l_incompliance then

digio.writeport(32) --写失效模式至DIO

l_bins[2] = l_bins[2]+1 -- “分级”器件

l_abort_test = true -- 将中断测试标记置为真并退出循环

else -- 否则，器件仍然是好的，所以继续测试

digio.trigger[5].assert() -- 输出触发信号至“数字测试系统”

l_nvectors_remaining = l_nvectors_remaining – 1 -- 新计数

end --if语句

-- 如果测试不中断，那么器件是好的

if not (l_abort_test) then

digio.writeport(64) -- 写通过模式至DIO

l_bins[1] = l_bins[1]+1 -- “分级”器件

end --if语句

--关闭SMU输出

smu.source.output = smu.OUTPUT_OFF

-- 输出EOT触发信号

digio.trigger[3].assert()

-- 清除分级码（将全部撤销保护的比特置为零）

delay(0.0001) -- 清除分级码之前延迟的单位为秒

digio.writeport(0)

end --for语句

l_stop_time = timer.measure.t()

l_elapsed_time = l_stop_time - l_start_time

-- 在260X前面板显示吞吐率和最终分级结果

display.clear()

display.setcursor (1,1)

display.settext("Parts per sec = "..tostring(ndevices / l_elapsed_time))

display.setcursor(2,1)

display.settext("Bin Count: Good= "..l_bins[1].." Bad= "..l_bins[2])

-- 将速度与分级结果写至输出队列以供PC主机读取

print("Elapsed time = "..l_elapsed_time.." sec")

print("Parts per sec = "..tostring(ndevices / l_elapsed_time))

print("Bin Count: Good Parts: "..l_bins[1].." Bad Parts: "..l_bins[2])

end --IddqTest函数

用测试脚本生成器或者其它应用执行示例的IDDQ测试脚本仅创建了函数，不执行任何测试。执行IDDQ测试需要调用IddqTest()函数。例如，为了用2000个测试向量测试100个器件，系统控制器必须发送指令“IddqTest(smua, 100, 2000)”。

作为对函数调用的响应，260X等待外部数字测试系统对每个DUT的开始测试（SOT）触发信号。260X收到SOT信号后，打开SMU输出并等待数字测试系统的触发信号。数字测试系统向IC输入端施加测试向量，然后发送一个触发信号至260X。260X接到触发信号后，等待一个预定的建立时间，然后检查其箝位状态。如果不在箝位状态，那么这项IDDQ测试通过，而且260X输出一个触发信号至数字测试系统并进入循环等着下一个施加的测试向量。此过程持续进行直至完成全部测试向量或者260X进入箝位状态。如果成功通过全部测试向量，260X

就向其DIO端口写入十进制数64表明通过了数字测试系统。表元素“l_bins[1]”加1用于模拟器件的分级。然后，260X输出测试结束（EOT）触发信号至数字测试系统，表明已完成DUT的IDDQ测试序列。

如果260X进入箝位状态，那么IDDQ测试失败。在单项测试失败时，260X采用“立即”分级方案，这意味着260X会立即向数字测试系统写一个失效位模式（十进制数32），中断

剩余的测试序列，然后输出EOT触发信号至数字测试系统。在输出了失效模式后，表元素“l_bins[2]”加1用于模拟分级过程。在260X通过写十进制数0至DIO端口来发送EOT触发信号后，260X等待一个预定的时间间隔就会清除通过/失效位模式。如果有更多的DUT要测试，260X进入循环并等待下一个SOT触发信号。当完成全部测试后，在260X前面板会显示吞吐率和分级结果；吞吐率和分级结果也会打印至输出队列以供系统控制器读取。