新型雷达数字电路便携式自动测试系统设计
时间:09-21
来源:电子产品世界
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插入模拟故障(U8-6 stuck to 0),重新仿真:扫描链测试→PASS→B-Scan器件簇测试→PASS→NB-Scan器件簇测试→Failed (Report: Pin(s): U3-25,R26-2,U8-6,R26-1 possible stuck at low,the BS nodes is U31-21(R/W))。
上述仿真结果表明,融合MERGE方法所构建的基于边界扫描的板级自动测试系统,自动化程度高,故障隔离准确有效。