微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 微波射频 > 射频工程师文库 > 中兴通讯NES反向覆盖测试系统

中兴通讯NES反向覆盖测试系统

时间:06-27 来源:中兴通讯-万勇 点击:

某优化区域为例,针对区域内导频污染问题进行基于反向覆盖测试数据的ACP优化调整,图4是优化调整前后的对比情况。

\

图4 优化区域调整前后导频污染情况对比(红色为导频污染区域)

对比调整前后的路测数据可以看出,导频污染所占比例由调整前的0.99%减少至调整后的0.53%,网络指标提升了46%。与此同时,调整区域的PCCPCH RSCP和C/I也有大幅度提升。

反向覆盖测试系统在数据采集完备性方面的优势,可以助网优工程师发现利用传统路测工具所不能发现的覆盖问题。在此基础上通过与ACP工具相结合进行天馈参数优化应用,输出的优化调整方案可以作为最终解决方案,避免了传统优化方式多次测试、多次调整的弊端,大大提高了网络优化效率。经过统计,基于反向覆盖测试数据的ACP优化调整,使整体覆盖优化效率提升至少50%。随着站点规模的增加,效率提升趋势将更加明显。表2是30个站点规模的效率提升统计。

\

表2 效率统计表

中兴通讯的NES反向覆盖测试系统只需在系统基站侧进行软件升级即可实现专用测量功能,对现网设备没有影响。再配合移动发射台,从根本上避免了传统路测工具(多发单收模式)在接收端同频测量动态范围和灵敏度受限的问题,为现网路测数据采集提供了新的思路和方法。通过对NES反向覆盖测试系统得到的覆盖数据进行进一步深度挖掘和应用,如与ACP结合进行RF优化,构建干扰矩阵进行网络邻区、频点和扰码优化等应用,能够大大提高覆盖优化效率和准确性。中兴通讯后续将加大该系统在外场的应用力度,充分发挥其作为新型网络覆盖优化工具的技术优势,为运营商打造TD精品网络提供强有力的支撑。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top