圆我“铁电梦”,关于FRAM网友有话说!
近几年,FRAM(铁电存储器)比较火,特别是在三表的应用中。网上也有不少对FRAM技术的讨论。这不,小编看到了一篇分享,是某网友总结的FRAM应用的心得,发布在这里供正在使用和将来要使用FRAM的筒子们参考~
网友分享原文如下:
前段时间曾在申请过某公司的样品,苦苦等了两个多月,后来由于种种原因样品没能申请成功,就暂停了我的铁电之旅。
在一次活动上了解到了富士通的铁电,才发现原来富士通这么牛,铁电出了这么多型号。于是马不停蹄的申请了样品MB85RC256V,让我有机会圆了"铁电的梦"。
铁电存储的优势很明显,与 EEPROM 、 FLASH 等传统的非易失性存储器相比,具有优越的高速写入、高读写耐久性和低功耗性能。好了,进入正题,先看下样品的外貌↓↓↓
好吧就是这么巧!一直以蹭网为生的我,刚好又赶上断网,只好用流量下了个手册下了个I2C的代码,准备正式测试这个神奇的铁电。but~经过研究想在这短短的几天时间写死MB85RC256V这家伙是不太现实的!
脑回路一转,咱们玩点有意思的,测试一下MB85RC256V的写入速度和低功耗把~虽然测试的方法简单,但解决的这个问题正是我以前遇到过的,就是这么6!
首先是飞线,得益于我那超凡的焊功,这个片子没费多少功夫就焊成这样:
还是挺漂亮的,然后连接到LaunchPad的效果是这样:
富士通铁电存储器MB85RC256V写入速度与功耗测试原理及流程是这样的:
检测原理
通过二极管将外部电源与测试板电源隔离 测试板使用1个10uF和1个100nF电容畜电
使用单片机I/O口检测外部电源电平,掉电检测I/O使用下拉电阻
工作时掉电检测I/O由外部电源拉高
单片机工作时处于低功耗状态
当外部电源掉电后,掉电检测I/O通过下拉电阻产生下降沿中断
产生下降沿中断时唤醒单片机 同时向MB85RC256V 地址0写入0x55 并点亮LED耗尽测试板电容剩余电量
单片机每次上电会从MB85RC256V 地址0读取一个字节数据,判断是否为0x55,如果是则点亮LED说明曾向此处写过数据
为方便下一次测试,使用按键清除MB85RC256V 地址0数据,将数据置零
测试流程
开发板上电工作
断开测试板外部电源
开发板由电容器内部存储的电能短时供电
I/O产生中断
写入 0x55数据到MB85RC256V 地址0
LED点亮耗尽剩余电量
测度板重新上电
通过查看LED状态,如果LED点亮说明写入0x55成功,否则失败
开发环境
使用TI LaunchPad MSP430G2553开发板
使用物理I2C P1.6 SCL P1.7 SDA
使用P1.3作为按键 输入 上拉电阻 下降沿中断检测
使用P2.0作为掉电检测引脚 输入 下拉电阻 下降沿中断检测
下好程序后需去掉J3所有跳帽 防止电流通过I/O流入
MB85RC256V使用杜邦线飞线连接
使用47K外部上拉电阻
MB85RC256V地址线全部拉地
测试心得总结
MB85RC256V绝对是个很牛的东西,配合msp430使用10uF+100nF来实现掉电数据保存真的是绝配!每次掉电后红色LED是会闪亮一小下的,也就是说MB85RC256V写完数据后还有很多电量供LED发光。这种情况下普通的EEPROM是不可能实现的,不信的朋友可以试试哦~
看完网友的分享,你是不是也对咱们富士通的铁电也产生了浓浓的兴趣呢?点击此处"阅读原文"可了解更多哦~
MB85RC256V FRAM 富士通 相关文章:
- FRAM在汽车电子中的应用方案TOP4(02-25)
- FRAM在医疗领域和智能电表中的应用及发展(03-01)
- 在高端医疗设备中,FRAM有着100%的应用!(02-28)
- FRAM不怕辐射,解决医疗应用难题!(02-28)
- 访谈:铁电存储器助富士通半导体拓展多领域应用(03-01)
- 在嵌入式设计中将FRAM用作闪存的替代方案(09-08)