构建以软件为中心的下一代自动化测试系统

的任务相分离的测试策略是十分重要的，这样工程师们在整个开发周期中可以迅速地重用、维护并修改测试程序（或者模块）来满足特定的测试需求。

　　在所有的测试系统中，都存在着根据待测设备不同的不同操作，也存在着对于所有待测设备都通用的操作，例如系统级别的任务等。

　　对于每个设备不同的操作

　　• 仪器配置

　　• 测量

　　• 数据采集

　　• 结果分析

　　• 校准

　　• 测试模块

　　对于每个设备通用的操作

　　• 操作界面

　　• 用户管理

　　• DUT跟踪

　　• 测试流程控制

　　• 存储结果

　　• 测试报告

　　一些公司已经编写了自己的测试执行器，并且分配了宝贵的工程资源来从头开始开发测试管理软件。这通常会导致生产率下降并且为了维护软件而长时间占用资源。为了使生产效率达到最大化，工程团队应该利用商业上可用的测试管理软件，例如NI TestStand软件等，来减少对于每个设备的通用操作的开发。通过利用这个软件，工程师们可以专注于对各设备的专有操作的开发。需要更多信息，请查阅《Developing a Modular Software Architecture》白皮书。

　　4. 结构层次四：应用开发软件

　　在测试系统结构中，应用开发环境（ADE），例如NI公司的LabVIEW和LabWindows/CVI等，扮演了关键角色。利用这些工具，测试系统开发者可以与各种各样的仪器通信、集成测量、显示信息、与其它应用连接等等……理想的用于开发测试和测量应用的ADE需要提供易用性、高效编译性能、与多种I/O集成以及编程灵活性等一系列的应用要求。易用性不仅在于可以多么迅速地上手和使用。利用易于使用的ADE ，开发者可以容易地把处理例程和多种测量设备集成在一起，创建复杂的用户接口，部署和维护应用程序，并且在产品设计改良和系统需要扩展时修改应用程序。

　　如需更多信息，请查阅《Choosing the Right Software ApplicaTIon Development Environment》白皮书。

　　5. 结构层次三：测量和控制服务

　　测量和控制服务提供了对系统中各种硬件资源的连接、系统配置和诊断工具等，至关重要。例如，NI Measurement and AutomaTIon Explorer （MAX）可以对硬件资源进行自动检测，包括数据采集、信号调节硬件；GPIB、USB和局域网控制型仪器；PXI系统、VXI设备；模块化仪器……，因此开发者可以在一个地方对它们进行配置。集成诊断测试保证了设备功能正常，而测试面板为开发者在开始编程前检查硬件的功能提供了快捷的方法。测量和控制服务还通过应用编程接口（API）提供了对应用开发软件层的集成，这样开发者可以容易的对他们的设备进行编程。实际上，这种服务软件的部件——硬件驱动程序，应用编程接口（API）和配置管理器必须无缝集成到ADE中，从而使得性能最大化、提高开发生产率，减少总维护成本。

　　需要更多信息，请查阅Developing a Modular Software Architecturewhitepaper.

　　6. 结构层次二：计算和测量总线

　　每个自动化测试系统的核心部件都是计算机（形式有台式个人计算机、服务器工作站、便携式电脑或者嵌入式计算机等不同与PXI和VXI配合使用）。使用计算式平台的一个重要方面就是可以与测试系统中各种各样的仪器进行连接（和通信）。现在有多种不同的仪器总线用于单独或模块化仪器，包括GPIB、USB、LAN、PCI和PCI Express等。这些总线有着不同的能力，对于特定应用来说，一些总线比另一些更加合适。例如，GPIB总线在仪器控制中有着广泛的应用，对于仪器来说有着广泛的可用性；USB总线提供了广泛的可用性、易于连接性和高吞吐量；局域网总线对于分布式系统十分合适，而PCI Express总线则提供了最高效的性能。

　　个人电脑的广泛使用促成了高性能内部总线的不断进步，其中包括PCI和PCI Express总线，它们具有最低的延时和最高的数据吞吐量或带宽。PCI总线提供了高达132MB/s的总线带宽，而PCI Express总线作为PCI总线的进化版，可提供4GB/s的带宽，来满足不断增长的带宽需求，同时在软件上对PCI总线完全兼容。图3 解释了最流行的仪器控制总线的延时和带宽性能。

　　图3 对于各种仪器控制总线的比较。PCI和PCI Express总线提供了较好的带宽和延时，

　　即较好的总吞吐性能。

　　需要更多信息，请查阅《 Hybrid Systems： IntegraTIng Your MulTI-Vendor， Multi-Platform Test Equipment 》白皮书和《Instrument Bus Performance： Making Sense of Competing Bus Technologies for Instrument Control 》白皮书。

　　7. 结