功率半导体的革命:SiC与GaN的共舞
MOSFET。通过减小通道电阻及基板电阻,降低了导通电阻,从而在耐压600V下实现了0.79mΩcm2的导通电阻,在耐压1200V下实现了1.41mΩcm2(图1)。据该公司介绍,与原来的硅制MOSFET相比,导通电阻不到1/20,与已量产的SiC制MOSFET相比也不到1/7。
图1:在耐压600V下导通电阻低于1mΩcm2
罗姆试制出了在耐压600V下导通电阻低于1mΩcm2的沟道型SiC制MOSFET。与该公司的原产品相比,通道电阻约降低了80%,基板电阻约降低70%,导通电阻还不到一半(a)。通过采用栅极和源极都形成沟道的"双沟道构造",减轻了栅极部分的电场集中效应(b)。
罗姆表示将在争取2013年度内使沟道型SiC制MOSFET实用化。
内置回流二极管
在提高SiC制MOSFET性能的同时,通过减少部件数量,抑制采用SiC制功率元件时的成本增加的研发也在进行之中。
典型例子是松下2011年12月作为研发成果发布的内置有回流二极管的SiC制MOSFET。该产品通过内置回流二极管来减少逆变器电路中的部件数量,从而实现了电路的低成本化及小型化。
此前,MOSFET内置的二极管启动电压高达约2.5V,难以达到实用水平。而松下的试制品将该电压降低到了0.5V。而且,据松下介绍,SiC制二极管的温度特性优于普通SBD(图2)。尽管松下没有具体的商业化计划,但估计约两年后可以解决实用化所面临的技术课题。
图2:温度特性优于SiC制SBD
松下试制出了内置有回流二极管的SiC制MOSFET。据该公司介绍,与普通的SiC制SBD相比,内置二极管的温度特性十分出色。获得某一电流输出值所需要的正向电压在高温下也不易发生变化。
氧化镓比SiC耐压高且损耗低
"实际上Ga2O3是很有意思的材料"(熟知功率半导体元件的研究人员)。
与正作为新一代功率半导体材料而在推进开发的SiC(碳化硅)及GaN(氮化镓)相比,因有望以低成本制造出高耐压且损耗低的功率半导体元件(以下称功率元件),作为氧化镓一种的β型Ga2O3吸引了众多目光。
契机是日本信息通信研究机构(NICT)、田村制作所及光波公司共同开发出的β型Ga2O3晶体管(图1)注1)。具体就是把肖特基结型金属用作栅极电极的"MESFET"(金属半导体场效应晶体管,metal-semiconductor field effect transistor)。
注1) 此次的部分开发是通过NEDO的委托业务"节能革新技术开发业务——挑战研究‘超高耐压氧化镓功率元件的研发’"实施的。基板制造由田村制作所与光波公司负责,外延层形成由京都大学、东京工业大学及田村制作所负责,工艺由NICT负责。
尽管该晶体管采用不形成保护膜(钝化膜)的简单构造,但耐压却高达257V,漏电流仅为5μA/mm。"本来是抱着能工作就可以的期望制造的,但结果却好得超出了想象。这是只有氧化镓才能实现的值",NICT未来ICT研究所超高频ICT研究室主任研究员东胁正高开心地表示。
材料性质比SiC及GaN还要出色
比SiC或GaN耐压高且损耗低的功率元件之所以能够实现,是因为其材料性质参数比两种材料都要出色(图2(a))。其中,带隙和绝缘破坏电场较大。
图3 NICT等利用β型Ga2O3试制出了晶体管(a、b)。尽管构造简单,但耐压高达257V(c)。((a)的图片来自于NICT等)
在Ga2O3中,化学性质比较稳定的是β型,其带隙为4.8~4.9eV。该数值是硅的4倍以上,而且高于3.3eV的SiC和3.4eV的GaN。绝缘破坏电场为8MV/cm左右,相当于硅的20倍以上、SiC或GaN的两倍以上。
图4 β型Ga2O3的带隙及绝缘破坏电场特别大,低损耗性指标"Baliga性能指数"较高(a)。因此,制造相同耐压的功率元件时,β型Ga2O3与GaN或SiC相比,导通电阻会变小(b)。
因此,从理论上来说,制造相同耐压的单极性功率元件时,β型Ga2O3与SiC或GaN相比,可以减小导通电阻(图2(b))。而导通电阻的降低,有助于减少电源电路中的电力损耗。
耐压上也有望超过SiC。比如,通过设置形成保护膜来减轻电场向栅极集中的"场板"的单极晶体管,"估计可达到3k~4kV"(NICT的东胁)。
而单极元件——SiC制MOSFET的耐压一般为1kV左右,提高了耐压的双极元件"应该也很难达到3kV以上"(东胁)。
β-Ga2O3还有一个特点,就是在制作基板时可采用"FZ(floating zone,悬浮区熔法)"及"EFG(edge-defined film-fed growth,导模法)"等溶液生长法,这两种生长法能够以低成本量产结晶缺陷少且口径大的基板。
FZ法及EFG法已被实际用于蓝宝石基板的制造。蓝宝石
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