基于STC12C5A60S2与AD620的小信号采集系统
在许多电子设备中需要对微弱信号进行高精度处理,因此需要采用仪器放大器,常见的有传统三运放仪器放大器和单片仪器放大器。由于单片仪器放大器的高精度、低噪声及易于控制、设计简单等特点,深受设计者喜爱。
AD620作为一款单片仪器放大器,具有低功耗,通过外部电阻可实现高增益的芯片,同时具有低输入漂移和温漂等特点。
STC12C5A60S2是一款具有A/D转换功能的新一代8051单片机,指令代码完全兼容传统8051,但速度快8~12倍。具有8路高速10位输入型A/D转换(250 k/s),可做温度检测、电池电压检测、按键扫描、频谱检测等。用户可将任何一路设置为A/D转换,不需作为A/D使用的口可继续作为I/O口使用。
文中介绍了如何利用STC12C5A60S2和AD620等芯片设计并完成小信号(电压型)的采集系统。
1 系统硬件设计
1.1 系统原理框图
一般信号在使用前,需要先滤波后放大,或者先放大后滤波,然后经过A/D等手段获取(感知)信号。对于小信号而言,信号幅值只有几毫伏,甚至更小,如果先滤波,可能会将有用信号滤除,因此,在这种情况下,需要先进行放大,然后滤波,再进行A/D转换或其他处理。根据本系统特点,系统中存在的干扰可以忽略,因此不考虑信号滤波环节,因此,系统主要通过信号提取、信号放大、A/D采集3个重要环节实现。第3个环节产生的数据,可以指导人们的工作,或显示相关的信息。整个系统原理框图如图1所示。
1.2 芯片供电电路设计
AD620作为一个放大器,可以使用单电源或者双电源工作,但是使用双电源工作时,其性能优于单电源。在集成电路设计中,单电源易于实现,但考虑到芯片的工作性能,本系统中采用双电源供电。利用ICL7660S芯片,将外部单电源转换为双电源。ICL7660S是一个电压转换芯片,可以实现由正电压转换为负电压的功能,其外围电路也比较简单,具体电路如图2所示。
系统中其他芯片均采用5 V单电源供电,对接入的5 V电源不需做任何处理即可使用,此处不做说明。
1.3 信号调理电路
实际的微弱信号,一般为mV级,甚至更小,在处理前,需要进行放大,然后进行A/D采集。根据STC12C5A60S2具有的A/D功能,需对信号进行精确放大,使其达到V级,因此采用AD620放大器。AD620对2路输入差分信号具有较好放大效果,在实际应用时,信号一般由电桥产生。为了实现信号放大,AD620需要外接电阻,由其与内部电阻共同确定放大倍数。设放大倍数为G,则有下式。
1)式中RG为AD620内部电阻,R1为外部电阻。由(1),(2)式可看出,(1)式中RG大小为49.4 kΩ。
调理后的信号经过AD620的6脚输出,此时可直接接入A/D转换芯片,实现数据采集,使用时缩小相应倍数即可。信号调理原理如图3所示。
1.4 系统去耦电路
由于系统主要实现小信号的放大以及放大后的A/D转换,而本系统完成A/D功能的芯片,即STC12C5A60S2,以自身工作电源作为参考电压,为了保证转换结果的一致性,需要确保电源电压的稳定。滤除电源中的干扰,可通过多电容并联滤除,电容并联后容值增大,但是电容内部的等效电阻却因并联而减小,有利于降低损耗,因此很多时候将多个电容并联起来使用,实现原理如图4所示。
1.5 A/D转换的实现
前面提到STC12C5A60S2是一款具有A/D转换功能的单片机,具有使用方便、简单、功能多等特点,其A/D转换最快只需90个时钟周期(和其工作频率有关),本系统采用其实现A/D转换。
STC12C5A60S2将P1口作为8路A/D转换输入接口,在使用时只需将其设置为模拟接口,通过设置相应寄存器,便可完成A/D转换,不使用的管脚还仍可当普通管脚使用。本系统实现一路输入信号的A/D转换,因此只需设置一路即可,在本系统中使用P1.0口作为信号输入口。本系统实现A/D转换的原理如图5所示。
1. 6 后续工作
在AD完成后,还需进行数据分析,一般可以通过通信口(一般采用串口)发送给上位机,通过上位机对数据进行处理。根据具体系统的不同特点,数据处理方法也不尽相同,在此不做详细讨论。
本系统对不同大小的信号进行A/D转换后,获取到了一系列实际数据和理论数据,如表1所示
。通过Excel对A/D数据进行曲线绘制,发现系统A/D转换器具有较好的线性度。如图6所示。
2 实际应用
上文较详细的讨论了小信号的调理,A/D转换,及其处理方法,下面通过实例介绍其具体应用。
电阻应变片作为一种传感元件,常用来监测物体形变,一般将应变片贴在构件侧点上,构件受力后由于测点发生应变,电阻发生变化,产生微弱的电压变化,通过检测微弱的电压变化,可计算得到构件形变程度,从而达到监测构件状况的目的,指导相关工程
- IEEE802.16-2004 WiMAX物理层操作和测量(09-16)
- 基于PCI 总线的高速数据采集系统(09-30)
- HSDPA和HSUPA的增强功能及测试分析(10-23)
- 提升IC测试厂的产能利用率(10-30)
- TD-SCDMA系统终端CC实体的一致性测试(10-27)
- 测量并抑制存储器件中的软误差(10-30)