基于TMSF240芯片的内部FLASH的一种自测试方法

由DSP处理器自动计算校验和是正确的基础上的，这是由CPU的加减乘除和逻辑运算等自测试正确保证的，在上电时PUBIT里有该项自测试。

4 结束语
DSP已经广泛应用于飞控计算机智能接口模块中。虽然其具有很高的可靠性，但在飞控系统的使用中也必须进行测试。本文就DSP芯片内部自带FLASH提出了一种自测试方法，通过两次烧写FLASH将待测空间的校验和计算出来并计入RAM中事先定义好的变量中，重新编译后生成新的目标码校验和变成第一次校验和的2倍。这样利用sum=sum+sum巧妙地避过了两次校验和增加而引起程序的改动。此方法简单有效地解决了DSP芯片内部FLASH自测试问题，并已在机载设备，包括飞控计算机接口模块中得到应用，对提高机载设备的可测试性和可靠性有一定的作用，值得推广使用。