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使用Intel Xeon CPU和PCI Express Gen 3技术增强测试测量系统

时间:07-02 来源:mwrf 点击:

速度发展下去,物联网的影响将大大超出所有人的预测,在物联网时代,万事万物都是可以感知、计算和相互通信的。

但创新有几层含义。在设计环境中可行到用户可以真正使用需要多个测试和测量步骤,而且人们对带宽和处理能力的需求每年都在增加。虽然我们不希望牺牲产品的质量,但是我们也不希望每次出现新产品时都需要花费宝贵的时间和金钱来购买或开发额外的硬件和软件。预测产品创新的未来是不可能的,但选择具有高灵活性和可扩展的架构是有可能的。由于模块化产品可满足不断变化的需求,NI PXIe-8880嵌入式控制器、NI PXIe-108524 GB/s机箱结合丰富多样的模块化仪器,使得NI PXI成为任何测试和测量应用的完美解决办法。

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