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一种系统芯片的功能测试方法

时间:07-19 来源:电子科技大学电子科学技术研究院 宗竹林 何春 点击:

  4.1软件的实现

  根据"成电之芯"输入激励和输出响应的数据对比要求,编写了可综合的verilog代码。代码的设计完全按照"成电之芯"的时序要求实现。

  4.2 硬件的实现

  根据功能测试平台的实现框图进行了原理图和PCB的设计,最后设计完成了一个可对"成电之芯"进行功能测试的系统平台。实物图如图5所示。

  5 结论

  本文通过对"成电之芯"功能测试平台的设计与实现,阐述了一种基于可编程逻辑器件的系统芯片功能测试平台的建立。本文从系统芯片的测试评估出发,一步步深入系统芯片测试方法分析,最终实现一个完整的测试平台。

  该系统除了阐述功能测试平台的实现方法外,同时也对待测芯片--"成电之芯"进行了充分的测试,为每一块芯片的功能是否完好提供了重要依据。

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