PXI射频模块仪表在手机生产测试上的应用

在产线上利用更多的非信令测试

　　随着手机设计技术的发展，非信令测试逐渐成为生产测试的主流。越来越多的手机芯片厂商在测试模式下提供非信令的测试方法。同样的测试项目，非信令模式可以比信令模式快上3~7倍。

　　传统的射频特征验证采用综测仪的信令模式，信令模式下的测试的速度很大程度上取决于系统协议。使用空中接口来控制手机成了测试速度上的瓶颈，由于这个原因，越来越多的生产线在最终组装前以非信令模式进行手机射频特征参数的验证测试，而在组装后最终测试时只进行功能检查。这样就能在快速地在手机组装前定位射频缺陷。

测量仪器的选择

　　功率测量的工具通常是功率计，但频谱仪和射频综测仪目前被广泛的使用。 功率计的优点是功率测量精度比较高。但如果测试系统保持经常性地校准和维护，这个优点变得并不明显。而功率计的缺点是用途比较单一，需要更多额外的测试设备，而且带来测试夹具的复杂性。更为重要的是, 单独测量功率意味着别的校准测量例如IQ调制校准必须等待，造成许多测量串行进行。而频谱仪和射频综测仪就不存在这个问题，很多的测量可以在相同的信号样本数据下同时进行。

　　通用的频谱仪在零频宽（zero SPAN）模式下测量功率会比较快，这种模式下频谱仪可以看作是调谐接收机. 功率测量会通过一个滤波器进行，滤波器带宽可以由系统定义. 频谱仪的模拟滤波器会引入很大的带内带外开关频谱误差，当然预先判断的话, 这些误差可以作一定的修正。频谱仪比功率计有着更大的动态范围，但是通常只有在参考电平处才有比较好的电平精度，这样的话通常要在测量中加入不少的延时来确保电平准确度，要么你只有接受这些带有很大不确定性的测量结果。频谱仪的电平线性度可以被特征化，但这也增加了测试系统软件的复杂度。

　　射频综测仪在零频宽测量上与频谱仪十分相似，当然局限性也相同。优点是它能在流程的最后在信令模式下进行许多功能测试，尽管很少有在校准和射频特征验证流程中通过的手机在此测试不通过的。

　　基于PXI总线的射频仪器非常适合手机的射频校准和特征参数测试。虽然基于GPIB总线的仪表可以达到同样的目的，但它们从最初设计的开始就更多的为研发部门考虑，包括测试功能，操作面板，测量方法等等，很多设计对于工厂大规模生产是不适合的，你会发现有很多冗余的部分没有必要，而又有很多你想要的部分却没有。低成本的PXI 模块化仪表给了你另外一种选择，你可以完全根据你想要的功能和指标来购买仪表。基于PXI的射频信号源能产生高质量的调制和连续波载波信号来替代昂贵的通用射频信号源，而它的射频指标如电平精度和重复性都能满足你的生产测试要求。

　　 使用工业标准化的软件驱动可以把PXI模块轻松地集成进入你的测试系统。基于PXI的信号分析仪可以分析发射机的射频特征参数，能够替代功率计，频谱仪和综测仪。PXI信号分析仪把射频信号转化为数字中频，对中频采样后的得到IQ数据通过PXI总线传送到PC，在PC端结合各种测量库软件可以分析各种射频参数，如功率，频率，频谱，调制精度等等。这种测试的方法比传统的仪表更快速和高效。