低功耗制造测试的设计-第一部分

，而这一趋势正驱使人们在DFT流程中使用可感测功率的测试技术。

功率预算的表示

触发器开关活动与节点开关活动高度相关，其动态功耗反映了节点开关活动。因此可认为避免测试引起的功率相关故障的一种有效方法是在扫描测试期间充分地减少触发器开关活动，对制造器件的IR-drop行为进行详细案例研究有利于这种观测。因此功率降低技术的目标是充分减少触发器的开关活动，以便良好的器件能在角落条件下通过所有扫描ATPG测试。注意，我们无需最小化开关活动，只需将它减至与应用任务模式向量时观察到的开关速率相当的水平。

为了便于描述，假设将大量任务模式向量应用于一个设计，并发现峰值触发器开关活动量为触发器总数的26%。如果我们产生扫描ATPG向量，并跟踪对应于特定开关速率的向量数字，我们可能会观察到与图1中灰色分布相似的情况。由于峰值和平均开关速率超过26%，因此相对正常器件工作而言扫描测试会增加IR-drop延迟。

然而，如果我们采用相关技术降低测试期间的功耗，我们就能有效地将这种分布向左移。在图1中重叠的蓝色低功率分布区，扫描ATPG向量的峰值开关活动没有超过功率预算，因此降低了制造测试中功率问题产生的风险。

后文将介绍两种可以获得低功率向量分布的方法，它们在功率预算规定的方式上有根本的区别。

(第一部分结束。第二部分将从FebA开始)

作者：Chris Allsup

市场经理

测试自动化产品部

Synopsys公司