通用示波器自动测试系统
时间:12-01
来源:测控网
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文献
[1] 孙 续,《自动检测系统与可程控仪器》,电子工业出版社
[2] 高登芳,《微机实用测控接口技术》,北京科技出版社
[3] 高光润,《微处理机在电测技术中的应用》,机械工业出版社
作者:北京控制工程研究所 赵智宏 曹冬雨
- 提升IC测试厂的产能利用率(10-30)
- 无向量测试是测试高速I/O的最佳方法(11-06)
- 解决多总线系统级芯片测试问题的多域方法(11-07)
- RF仪器必须应付各种无线市场的需求(01-01)
- 电子装备数字电路板自动检测仪设计(09-26)
- 自动测试系统设计(11-24)