数字视频芯片的可复用测试策略

片停止工作后观察完整的状态信息。

这些调试功能已经在硅片上实现，并用于验证内部时钟生成模块、诊断与内部时钟有关的问题以及分析通用I/O接口模块的错误行为。表3列出PNX8525上用于测试和调试所需的硅片面积。

前面所述的基于内核的测试方法是非常重要的，虽然该方法相对于单纯运行ATPG来说在设计中需要额外的硅片区域，但对目前和将来数字芯片设计的集成复杂性而言，它所提供的处理能力是至关重要的，测试所带来的好处远超出由于增加DFT所带来的硅片面积的成本。

作者： Bart Vermeulen

研究员

Steven OostdijkDFT项目经理

Frank Bouwman

设计技术部

飞利浦半导体公司