利用DFT规则提高ASIC错误检测范围

，如果它的控制信号是X 或改为X，引脚的值可以是24-逻辑值系统中C、E、Z、c、e和z中的一个，但在错误模拟中这个值必须是X或改为X。当控制信号是X时就是大多数逻辑和错误模拟器工作的方式，如果控制信号不是X，而三态或双向引脚是C、E、Z、c、e和z中的一个，那么在错误模拟中这个值将转换成Z。必须充分了解这一细微之处并进行正确处理，否则错误模拟输出响应将不匹配。两个系统之间的另一个区别是，24-逻辑值向量含有用于三态或双向引脚的内部控制信号，这个信号不能进入到错误模拟器使用的激励和响应文件中，但它们可以告诉翻译器什么时候三态引脚为Z值以及什么时候双向引脚改变方向，这样就能正确生成这两个文件。

编写翻译器的工作量很大，因为两个系统之间的区别数量大，而且非常细微，但这一点能够做到而且必须做到。因为错误模拟的关键是要将内部错误的影响传送至初级输出以进行观察，所以我们的目标是测试向量在转换以及被错误模拟器使用时没有输出不匹配。即使有一个输出不匹配错误模拟也是无效的，因为这表示模拟向量没有按芯片在芯片测试仪上进行测试的同样方法运行。错误模拟可以在正确的输入激励和输出响应文件生成后开始，每项测试运行结束后，标出检测到的错误，这样在后面就不用再对其进行测试了。在这种情况下，每项测试都会减少余下检测范围之外的错误。所有提供的非扫描测试运行完以后，很可能仍然有一些检测范围以外的错误。如果这些错误所在的模块必须位于错误检测范围内，就应针对这些错误用手工开发更多的测试向量，这将是一个耗时并需要多次反复的过程，但也可以从很多地方(如错误模拟工具供应商处)获取实用且经过验证的方法和有用的工具。

总之，扫描测试问题在ASIC设计中不是一个小问题，如果前期没有充分考虑到，那么到了后期将花费大量的时间和资源。所以很重要的一点是将它们作为与设计相关的事项对待，而不是与设计无关。同样重要的是，ASIC设计人员应与扫描测试新技术保持同步，因为新技术能以更容易的方法得到更高错误检测范围，并与现有扫描测试方法配合使用。

作者：Luke L. Chang

工程师

Calix Networks