存储器接口设计-认识信号完整性的价值

列的测试，如果出现故障，应对此加以分 析。另外一种是2角测试，输入到存储器的电压可能由电压调节器控制，因此无法调节输入到DRAM的电压，在这种情况下，可采用最大和最小温度测试或两角测 试。

功率周期测试

功率周期强化测试反复开关(重启)系统，测试包括冷启动和热启动测试。系统由未被运行状态到进入环境温度下的运行状态的过程 称为冷启动，当系统运行了一段时间且内部温度稳定时进行的启动为热启动。在启动或上电时，在可能出现错误的地方会发生独立的事件，包括电源供应电压的升高 及存储器的初始化，间歇性的问题只可通过反复启动被检测到。

自动刷新测试

DRAM单元漏电且必须被刷新以便正常操作，要节省耗电，自动刷新应在存储器处于非读写状态时进行。当进入和退出自动刷新功 能时，存储器控制器会提供正确的命令；否则会丢失数据。与功率周期类似，自动刷新周期非常有用。如果出现某种间歇性的自动刷新进入或退出问题，重复这一周 期有助于检测到这些问题。不采用自动刷新的应用应避免这种测试。

本文小结

存储器及其它组件间接口中的系统级问题可能是细微且难以觉察的，在适当的时间采用正确的工具可使设计工程师很容易地识别出潜 在的问题并增加设计的鲁棒性。重新评估边际测试和兼容性测试，尤其是在内存质量控制或确认过程中的作用，会大大减少存储器质量控制工程开发的时间，并对实 际故障有更有效和全面的认识，从而加快存储器质量控制的过程，尤其在稳定质量方面，这些就是使用上述测试带给你的主要回报。

作者：Larry French

系统存储器组现场应用工程经理

Micron Technology Inc.

Email: echadwick@micron.com