自动实现半导体器件系统强化测试的方法

互联系地运行的。后续处理软件可以生成一些有用的报告，以显示测试的覆盖范围。

开发记录功能时，应使强化测试软件尽可能简单方便地记录事件。在仿真环境下，可编写HDL代码来提供一个记录外设，这样设计人员只需写下一个数值记号， HDL就将产生完整的记录信息。在实际芯片上，可以将字节记号和数值发送到存储器板卡或输出到调试端口。关键之处是要避免记录操作本身过多占用宝贵的测试 运行时间，并导致过度干扰。通过后续处理软件，可以使记录更清楚、更美观。

本文小结

由于框架将涉及对中断处理程序所读写的共享数据结构的使用，因此访问这些数据结构时，应在软件代码中对重要的存储器段进行保护。例如，如果一个测试事件刚刚 读取了一个存储器段的inUse标志并发现它未被使用，但在它将该存储器段设置为保留之前，又发生了一个时隙中断，中断启动的测试模块结束时，可能将同一 存储器段设置为保留，因为此时该存储器段仍表现为未被使用。在这种类似的重要全局数据访问期间，应该将时隙定时器中断予以禁止。

设计一个强化测试框架时，有许多扩展可能性。如可以调节测试事件模块的概率权重，或调整测试参数以便对强化测试进行精密调节。举个例子，高速缓存切换事件可 能是100个测试事件模块之一，但测试时可能希望它运行比1％多得多的时间，此时便可通过调整测试参数来实现。规划、设计和实现性能优良可靠的半导体器件 强化测试框架是一项重大投入，虽然需要花费大量的时间，但它可以帮助提高产品的质量。

作者: Steve Babin

IBM公司负责开发灵巧电话软件的深入计算事业部担任顾问职务。在嵌入式系统领域拥有16年以上的工作经验，Steve
Babin持有路易斯安那州立大学的电子工程学士学位。

Email: sbabin@austin.rr.com